熱載子hot-carrier
論文中文名稱：, HK/MG nMOSFETs之熱載子劣化及其恢復效應 [以論文名稱查詢館藏系統]. 論文英文名稱：, Hot-Carrier Induced Degradation and ...,热载流子注入（英語：Hot carrier injection, HCI）是固态电子器件中发生一个现象，当电子或空穴获得足够的动能后，它们就能够突破势垒的约束。这里“热”这个术语是指 ... ,圖1.5 薄膜電晶體常見的熱載子效應: (a) CHE，(b) DAHC..............13. 圖1.6 扭結 ... current effect)、熱載子效應(hot carrier effect)以及扭結效應(kink effect). 都與汲 ... ,研究結果發現，PMOS電晶體的熱載子機制已非由負氧化層電荷(negative oxide ... The hot carrier inducing current degradation in nMOSFETs was considered ... ,熱載流子注入（英語：Hot carrier injection, HCI）是固態電子器件中發生一個現象，當電子或空穴獲得足夠的動能後，它們就能夠突破勢壘的約束。這裡「熱」這個術語是 ... ,而本專題討論high k/metal gate 金氧半場效電晶體熱載子可靠度的研究，. 分析在不同Ti 濃度及不同厚度下，hot carrier stress 後，其Id、S.S、GIDL、. VT 的變化，並且 ... , 但是表面濃度高導致Vt降不下來，而且還降低了載流子的mobility，所以我們 ... 2) Hot carrier effect (熱載流子效應, HCI)：為什麼叫熱載流子呢，因為 ..., ,熱載子注入（英語：Hot carrier injection, HCI）是固態電子器件中發生一個現象，當電子或電洞獲得足夠的動能後，它們就能夠突破勢壘的約束。這裏「熱」這個術語是指 ... , 論文中文摘要：, 熱載子(hot carrier，HC)一直是主要的可靠度研究課題，早期的研究顯示，相較於nMOSFETs，pMOSFETs之熱載子劣化通常被忽略， ...
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 熱載子hot-carrier 相關參考資料
HKMG nMOSFETs之熱載子劣化及其恢復效應
論文中文名稱：, HK/MG nMOSFETs之熱載子劣化及其恢復效應 [以論文名稱查詢館藏系統]. 論文英文名稱：, Hot-Carrier Induced Degradation and ... https://ir.lib.ntut.edu.tw 热载流子注入- 维基百科，自由的百科全书
热载流子注入（英語：Hot carrier injection, HCI）是固态电子器件中发生一个现象，当电子或空穴获得足够的动能后，它们就能够突破势垒的约束。这里“热”这个术语是指 ... https://zh.m.wikipedia.org 多閘極複晶矽薄膜電晶體閘極長度對電場之影響 - 逢甲大學
圖1.5 薄膜電晶體常見的熱載子效應: (a) CHE，(b) DAHC..............13. 圖1.6 扭結 ... current effect)、熱載子效應(hot carrier effect)以及扭結效應(kink effect). 都與汲 ... http://dspace.lib.fcu.edu.tw 探討0.13微米製程之PMOS電晶體其熱載子可靠度在升溫下的變化
研究結果發現，PMOS電晶體的熱載子機制已非由負氧化層電荷(negative oxide ... The hot carrier inducing current degradation in nMOSFETs was considered ... https://ir.lib.ntut.edu.tw 熱載流子注入- Wikiwand
熱載流子注入（英語：Hot carrier injection, HCI）是固態電子器件中發生一個現象，當電子或空穴獲得足夠的動能後，它們就能夠突破勢壘的約束。這裡「熱」這個術語是 ... https://www.wikiwand.com High kmetal gate 金氧半場效電晶體熱載子可靠度研究The ...
而本專題討論high k/metal gate 金氧半場效電晶體熱載子可靠度的研究，. 分析在不同Ti 濃度及不同厚度下，hot carrier stress 後，其Id、S.S、GIDL、. VT 的變化，並且 ... http://140.117.153.69 CMOS器件進階版講解- 每日頭條
但是表面濃度高導致Vt降不下來，而且還降低了載流子的mobility，所以我們 ... 2) Hot carrier effect (熱載流子效應, HCI)：為什麼叫熱載流子呢，因為 ... https://kknews.cc 熱載子注入- 維基百科，自由的百科全書 - Wikipedia
https://zh.wikipedia.org 熱載子注入- Wikiwand
熱載子注入（英語：Hot carrier injection, HCI）是固態電子器件中發生一個現象，當電子或電洞獲得足夠的動能後，它們就能夠突破勢壘的約束。這裏「熱」這個術語是指 ... https://www.wikiwand.com HKMG pMOSFETs之熱載子劣化及其恢復效應
論文中文摘要：, 熱載子(hot carrier，HC)一直是主要的可靠度研究課題，早期的研究顯示，相較於nMOSFETs，pMOSFETs之熱載子劣化通常被忽略， ... https://ir.lib.ntut.edu.tw |