晶 圓 檢測
WIM 300系列針對半導體晶圓於製程中所產生瑕疵提供精準光學檢量測分析，為兼具2D及3D檢量測功能之最佳品質控管利器。 商品介紹. 高解析度CCD結合多角度 ... ,2020年3月25日 — IC晶圓廠必須能夠即時檢測出缺陷，並儘可能在線上檢測，同時距離製程機台越近越好，速度越快越好。沒有檢測到的缺陷是無法對其進行控制的. ,提供金相前處理設備耗材,金相顯微鏡,電顯前處理設備耗材,電子顯微鏡,放大鏡,機器視覺專用鏡頭,LED光源,提供各種檢測包括AOI,aoi自動光學檢測,aoi自動光學測 ... ,晶圓光學檢測機. ... 影像解析度(Image resolution) : +-20um FOV:16.5mm; 晶圓載具(Wafer carrier) : 6″, 8”, 12”, 18″; 晶圓移動載台(Moving the wafer stage) : X ... ,半導體晶圓光學檢測系統Wafer Optical inspection system 能大幅提升晶圓品質與產能的重要關鍵之一，具有高效精準之瑕疵檢測量測技術，將可取代並減輕大量的 ... ,在半導體製程上，主要可分成IC設計、晶圓製程（Wafer Fabrication，簡稱Wafer Fab）、晶圓測試（Wafer Probe），及晶圓封裝（Packaging）。 晶圓測試是對 ... ,提供金相前處理設備耗材,金相顯微鏡,電顯前處理設備耗材,電子顯微鏡,放大鏡,機器視覺專用鏡頭,LED光源,提供各種檢測包括AOI,aoi自動光學檢測,aoi自動光學測 ... ,提供金相前處理設備耗材,金相顯微鏡,電顯前處理設備耗材,電子顯微鏡,放大鏡,機器視覺專用鏡頭,LED光源,提供各種檢測包括AOI,aoi自動光學檢測,aoi自動光學測 ... ,Wafer AVI是一套精心研發設計的自動外觀檢查系統，整合光學及視覺專業技術，提供 ... 獨特的檢測技術適用於晶圓製程，可有效檢測切割碎裂、bump / pad刮傷、 ... ,提供金相前處理設備耗材,金相顯微鏡,電顯前處理設備耗材,電子顯微鏡,放大鏡,機器視覺專用鏡頭,LED光源,提供各種檢測包括AOI,aoi自動光學檢測,aoi自動光學測 ...
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