kla tencor archer
在Moov 交易市集上購買或銷售二手的KLA ARCHER 10。數以千計的已驗證上架商品，每天皆會新增工具。 ,我们的量测解决方案可精确测量图案尺寸、膜厚、层间对准、图案位置、表面形貌、晶圆几何形状和实时制程。这种创新的系统产品组合可帮助芯片制造商保持对包括EUV光刻在内的 ...,KLA-TENCOR ARCHER 10 AUTOMATED MISREGISTRATION SYSTEM consisting of: Fully automated overlay measurement module including coherence probe interference ... ,Equipment description: 1.1 Purpose: Overlay measurement. 1.2 Model: KLA-Tencor Archer 10XT. 1.3 Original Manufacture Date: 2004. 1.4 SN: 3402. ,KLA/TENCOR Archer 100是一款先進的掩模和晶圓檢測設備，結合了先進的計量技術和專利的高光譜和光譜衍射成像，實現0.05 μ m的分辨率和高達24 LFOV/s的速度， ... ,从现有的Archer 机台升级，代表着先进工艺的高性能、低拥有成本叠层对准量测解决方案。 KLA-Tencor 的叠层对准量测事业群副总裁兼总经理Noam Knoll 表示：“实现向193i 光刻 ... ,KLA/TENCOR Archer 100 AIM是半導體行業中使用的一種掩模和晶圓檢測設備，為性能卓越的多種應用提供先進的缺陷檢測、成像和評審能力。它具有高速圖像捕獲、自動晶片 ... ,2012年9月5日 — Archer 500 專為先進設計節點的單層圖案與多層圖案微影技術帶來的複雜疊層對準挑戰而設. 計。與其前身，已被廣泛採用的Archer 300 相比，它能夠以更快 ... ,The Archer 750 and SpectraShape 11k metrology systems enable measurement and control of patterning overlay and CD during ramp and production of advanced ...
| 相關軟體 yEd 資訊 | |
|---|---|
 kla tencor archer 相關參考資料
二手的KLA ARCHER 10 設備 - Moov
在Moov 交易市集上購買或銷售二手的KLA ARCHER 10。數以千計的已驗證上架商品，每天皆會新增工具。 https://tw.moov.co Archer和SpectraShape量测技术| 芯片制造
我们的量测解决方案可精确测量图案尺寸、膜厚、层间对准、图案位置、表面形貌、晶圆几何形状和实时制程。这种创新的系统产品组合可帮助芯片制造商保持对包括EUV光刻在内的 ... https://www.kla.com KLA-Tencor Archer 10 Overlay Registration Measurement ...
KLA-TENCOR ARCHER 10 AUTOMATED MISREGISTRATION SYSTEM consisting of: Fully automated overlay measurement module including coherence probe interference ... https://classoneequipment.com KLA-Tencor Archer 10XT
Equipment description: 1.1 Purpose: Overlay measurement. 1.2 Model: KLA-Tencor Archer 10XT. 1.3 Original Manufacture Date: 2004. 1.4 SN: 3402. http://www.omni-semitech.com 二手KLA TENCOR Archer 100 #9221534 待售
KLA/TENCOR Archer 100是一款先進的掩模和晶圓檢測設備，結合了先進的計量技術和專利的高光譜和光譜衍射成像，實現0.05 μ m的分辨率和高達24 LFOV/s的速度， ... https://tw.caeonline.com KLA-Tencor 推出新型ArcherTM 300 LCM 叠层对准量测系统
从现有的Archer 机台升级，代表着先进工艺的高性能、低拥有成本叠层对准量测解决方案。 KLA-Tencor 的叠层对准量测事业群副总裁兼总经理Noam Knoll 表示：“实现向193i 光刻 ... https://www.kla.com 二手KLA TENCOR Archer 100 AIM #9261844 待售
KLA/TENCOR Archer 100 AIM是半導體行業中使用的一種掩模和晶圓檢測設備，為性能卓越的多種應用提供先進的缺陷檢測、成像和評審能力。它具有高速圖像捕獲、自動晶片 ... https://tw.caeonline.com KLA-Tencor 推出新的ArcherTM 500 疊層對準測量系統
2012年9月5日 — Archer 500 專為先進設計節點的單層圖案與多層圖案微影技術帶來的複雜疊層對準挑戰而設. 計。與其前身，已被廣泛採用的Archer 300 相比，它能夠以更快 ... https://www.kla.com Archer and SpectraShape Metrology | Chip Manufacturing
The Archer 750 and SpectraShape 11k metrology systems enable measurement and control of patterning overlay and CD during ramp and production of advanced ... https://www.kla.com |