icp-ms干擾
根據儀器原理及樣品進入ICP的順序，可能會出現化學干擾、物理干擾、記憶效應、電離干擾和光譜干擾。本篇帶大家認識幾個常見分析干擾產生的原因以及如何 ... ,感應耦合電漿質譜法(ICP-MS)具有高效快速、靈敏準確等特點，可應用於對紫菜中Se元素進行解干擾分析，以確保食品安全。 ,2019年12月25日 — 當不同元素共享質量相同的同位素會發生同重素干擾，例如114 Cd和114 Sn，此類干擾可使用數學方程式來校正，它包括量測干擾元素之另一同位素，再由分析訊號 ... ,Elements analyzing using ICP. Page 26. 27. • 進樣系統(ICP-OES & ICP-MS)概述. • 儀器參數設定與調機. • 常見之分析方法設定. • ICP-OES& ICP-MS之干擾去除. • ICP常用 ... ,ICP-MS定性分析原理是採用掃描方式，根據圖譜上出現的峰來判斷存在的元素及可能之干擾。通常用在對分析樣品基質缺乏足夠了解時，可以再進行定量分析前，先進行快速的定性 ... ,(二) ICP-MS 中同重分子(isobaric molecule) 和二價離子. (double-charged ion)干擾分別係由含有超過一個原子或電荷的. 離子所引起。例如， 40Ar35Cl＋ 對75As 及98MoO＋ ... ,同位素檢測干擾。大部分. 文獻上已證實影響ICP-MS 檢測之同重多原子離子干擾如表二所. 示。校正此干擾方法可由文獻中查得自然界存在之同位素豐. 度，或藉由調整標準溶液 ... ,影響ICP-MS 檢測之同重多原子離子干擾如表三所示。校. 正此干擾方法可由文獻中查得自然界存在之同位素豐. 度，或藉由調整標準溶液濃度，使 ... ,表一ICP-MS檢測中常見多原子離子干擾. 多原子離子, 質量, 干擾元素. NH+, 15. OH+ ... 表一ICP-MS檢測中常見多原子離子干擾（續）. 多原子離子, 質量, 干擾元素. Bromide. 81 ...
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