cobra探針卡
MPI Cobra探針卡是各種半導體生產測試的成熟解決方案，包括晶圓大批量生產（HVM）。 基於改進的“屈曲光束”技術- 眼鏡蛇，這些卡適用於焊盤圖案，如全陣列 ... ,MPI探針卡是各種半導體生產測試的成熟解決方案，包括晶圓大批量生產（HVM）。 基於改進的“屈曲光束”技術- ... Advanced Cobra Probe Card. LEARN MORE. ,垂直探針卡（Vertical Probe Card）為晶圓未切割前，IC未完成封裝前的重要 ... 有別於Cobra Probe Head，精測所提供的MEMS Probe Head 具有穩定性高，探針 ... ,展奧有限公司,半導體耗材,半導體零件,半導體加工組件,零件,加工組件等進出口貿易銷售及客製機台設備,PROBE CARD相關技術及設備耗材的服務,製作PROBE ... ,Cobra Probe Card Needle Specification. MPI探針卡依照您的產品，提供傳統的可彎曲垂直式探針卡以及微機電製程製作的 ... ,含有力量回饋垂直式探針卡的製作方式主要使用多層厚膜光阻，再進行曝光顯影. 等步驟，完成探針外型形狀再進行電鍍。 以目前市面上的眼鏡蛇(cobra)垂直探針卡為 ... ,MPI Cobra探針卡是各種半導體生產測試的成熟解決方案，包括晶圓大批量生產（HVM）。 基於改進的“屈曲光束”技術- 眼鏡蛇，這些卡適用於焊盤圖案，如全陣列 ... ,3.1 Cobra 探針針壓測試平台. (1) Cobra 探針結構. 垂直式探針卡最常使用的Cobra 探針為IBM 於1977. 年的專利【11】，頂部與端部為圓形截面，儲存能量的針身. ,探針卡的使用在IC 測試過程中，是相當重要的工具，透過探針卡之探針與晶圓 ... 程，同時研發出垂直式探針卡，且為Probe-After-Bump，並命名為Cobra 探. 針卡， ... ,Advance Probe Card. Cobra. Cobra 探針卡具有屈曲性能(buckling performance) ，且有大面積的擺針能力， ...
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