靜電論文
本研究是針對曝光設備於曝光過程中，因靜電放電產生之玻璃破片問題進行靜電消除裝置(Photo Ionizer)架設評估，探討藉由靜電消除方式達到品質改善目地。 ,本論文就靜電防制管理及理論，應用在晶圓代工廠房內自主檢管理,並以黃光區個案發生靜電放電的過程、研究及探討靜電放電真因，進行分析探討及記錄改善過程確實 ... ,中文摘要本論文主要是針對無線通訊產品及攜帶式隨身電子設備，例如:手機、PDA、Smart phone、MP3...等，防止靜電放電直接經由線路而破壞IC晶片，所以我們針對 ... ,由於系統單晶片的發展趨勢下，晶片尺寸越來越大，而累積在晶片的靜電電荷也越來越多，在使得積體電路更容易遭受元件充電模式之靜電放電破壞。在本論文裡，第一 ... , 綜觀世界上的所有電子製造商共同問題是靜電破壞和過壓破壞，特別是靜電破壞事件集中於製造生產的組裝線上。主要問題是不容易控制看不見的 ...,靜電產生的危害潛藏在工業製程步驟中，當靜電累積達一定程度，即產生放電現象，容易導致安全性問題，在易燃環境發生爆炸危險，將造成工業生產的損失和工業發展 ... ,9.1 ESD相關之美國專利. 跟ESD防護技術有關的美國專利累計至今已有六百多. 項，如下列所示。各位讀者可link到該專利案查看更詳細. 資料。 1980-1985年的美國 ... ,靜電放電（Electrostatic Discharge, ESD）造成產品損壞的問題一直都是存在的，再加上現今的3C產品都要求輕薄短小，處理器運算速度要越來越快或是越來越省電， ... ,論文名稱: 高壓製程積體電路元件之靜電放電防護設計與改善. 論文名稱(外文):, ESD Protection Design and Improvement in High-Voltage Process IC Devices. ,靜電放電防護設計及栓鎖效應防護在靜電防護元件設計上是一種權衡設計。本論文研究主要以矽控整流器作為基本靜電防護元件，並針對對於元件特性分析及崩潰 ...
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