晶圓檢測機inspectra
此外，TORAY INSPECTRA AOI對Bumping, Sawn Wafer 等製程提供有效並獨特的檢測方案。Toray 還提供業內高精度的TCB/FC設備，用於chip to wafer/ substrate ... ,TASMIT - 光學式半導體晶圓外觀檢查設備Wafer Inspection System. INSPECTRA® Series. INSPECTRA®系列擁有高速，高感度的技術，能實現晶圓全數檢查的 ... ,半導體晶圓光學檢測系統Wafer Optical inspection system 能大幅提升晶圓品質與產能的重要關鍵之一，具有高效精準之瑕疵檢測量測技術，將可取代並減輕大量的 ... ,檢測系統為因應半導體廠的封裝製程之檢測需求，期在進行封裝程序之前即儘早的先 ... 檢剔除，故而設計於切割完成的晶圓進行晶片挑揀的過程中，以高解析光學取像 ... different chips at their corresponding stations, and then inspect their defects. ,2017年4月25日 — 蔚華科技充實產品線，聯手晶圓檢測大廠東麗工程，擘劃大中華區自動 ... 日本東麗工程的晶圓缺陷自動光學檢測機台(AOI)-INSPECTRA設備， ... ,2017年4月10日 — 蔚華科技充實產品線聯手晶圓檢測大廠東麗工程擘畫大中華區自動光學 ... 日本東麗工程的晶圓缺陷自動光學檢測機台(AOI)- INSPECTRA設備， ... ,2017年4月10日 — 陳志德指出，蔚華科今年起負責經銷日本東麗工程的晶圓缺陷自動光學檢測機台(AOI) INSPECTRA 設備，佈局大中華區自動光學檢測市場。 ,此外，TORAY INSPECTRA AOI對Bumping, Sawn Wafer 等製程提供有效並獨特的檢測方案。Toray 還提供業內高精度的TCB/FC設備，用於chip to wafer/ substrate ... ,INSPECTRA®系列增加了可使用紅外光透視内部缺陷的新機型。1台設備兼有紅外光及可視光的檢查功能。... ,提供金相前處理設備耗材,金相顯微鏡,電顯前處理設備耗材,電子顯微鏡,放大鏡,機器視覺專用鏡頭,LED光源,提供各種檢測包括AOI,aoi自動光學檢測,aoi自動光學測 ...
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