場發射型掃描式電子顯微鏡
場發射型掃描式電子顯微鏡系利用加負壓於金屬尖端，以發電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子束，在極高的真空中操作（-10-10torr），可得到高品質的解析度 ... , 場發射型掃描式電子顯微鏡系利用加負壓於金屬尖端，以發電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子束，在極高的真空中操作（-10-10torr），可得到高 ...,掃描式電子顯微鏡其成像原理是利用一束具有5～30 kV之電子束掃描試片的表面，接收表面產生之訊號(包括二次電子、背向反射電子、吸收電子、X射線等)以顯現試片 ... , 掃描式電子顯微鏡其成像原理是利用一束具有5～30 kV之電子束掃描試片的表面，接收表面產生之訊號(包括二次電子、背向反射電子、吸收電子、X ...,FE-SEM 場發射掃描式電子顯微鏡. 機型：Hitachi-4700，EDS機型：HORIBA. Ⅰ. 0.5~30KV. Ⅱ. 電子光源：冷場發射電子槍. Ⅲ. 放大倍率：X 10 ~ X 500k. Ⅳ. 高解像能 ... ,本儀器結合日本HITACHI SU-5000熱場效型高解析場發射型掃描式電子顯微鏡、美國EDAX能量散射光譜儀(EDS)及電子背向繞射儀(EBSD)，可做為各式材料表面 ... ,解析度、操作方便性不斷提升，而周邊之. 分析儀器也不斷的改良，以追求更精確、. 更豐富的物質基本性質分析。 掃瞄式電子顯微鏡(SEM). 圖1： 超高真空場發射掃描式 ... ,儀器名稱 中文名稱：高解析場發射掃描式電子顯微鏡 英文名稱：SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 英文簡稱：JEOL JSM-7800F PrimeSEM. 儀器廠牌、型號、 ... ,本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜 ... 本儀器為蔡司公司AURIGA場發射型掃描式電子顯微鏡，並裝設EDS分析系統 ... ,本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜 ... 本儀器為蔡司公司AURIGA場發射型掃描式電子顯微鏡，並裝設EDS分析系統 ...
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