二次離子質譜儀wiki
二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用 ... ,二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射 ... ,二次離子質譜（英語：Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS）是用來分析固體表面或者是 ... 它的原理除了採用離子槍轟擊激發以外，其餘與質譜儀完全相同。 , 二次離子質譜（英語：Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS）是用來 ... 它的原理除了採用離子槍轟擊激發以外，其餘與質譜儀完全相同。,二次離子質譜（英語：Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS）是用來分析 ... 二次離子質譜儀包括（1）產生初級離子束的初級離子槍，（2）初級離子柱，將 ... ,跳到 無機質譜儀 - 二次離子質譜儀（SIMS）; 輝光放電質譜儀（GDMS） ... 例如，一台氣相層析-雙聚焦質譜儀，如果改用快原子轟擊電離源，就不再是氣相層析-質譜 ... ,扇形磁場式與飛行時間式都提供相當. 飛行時間二次離子質譜儀可同時分析微量有機分子與無機元素，可分析氫原子到分子量上萬. 的合成與天然物高分子，可區別質量 ...
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二次离子质谱_百度百科
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二次离子质谱（ Secondary Ion Mass Spectrometry ，SIMS）是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的原子或原子团吸收能量而从表面发生溅射 ... https://baike.baidu.com 二次離子質譜- Wikiwand
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