shadow moire測試
teltec.asia : Akrometrix - 熱變形外貌檢測儀- 光學光電與太陽能光伏晶圓製造IC ... Shadow Moiré 是一種非接觸式，全視野的光學技術，它用樣品上的參考光柵和它的 ... , SOP OF SHADOW MOIRE. 微機電翹曲量測儀標準作業規範. 64-31-0000-0153. SOP OF LEAD PULL TEST BY MICRO FORCE TESTER.,IC构装可靠度测试介绍- a IC 構裝可靠度測試介紹(IC Package Reliability ... Test item Purpose Shadow Moire Warpage (coplanarity on SMT) Die strength test ... ,Shadow Moire Method. 陰影疊紋法是一種非接觸性、非破壞性且全域性的光測力學方法，主. 要應用於平面外位移的量測。其原理是利用一組光柵及其投影在物體. ,Shadow Moire. 在被測物體前放一雲紋柵線板. 或在柵線板後放被測物體，當擴束. 白光照射柵板時，會同時將柵投影. 到物體上，柵線與柵線在物體上的. 投影相疊合， ... ,shadow moire測試,在被測物體前放一雲紋柵線板或在柵線板後放被測物體，當擴束白光照射柵板時，會同時將柵投影到物體上，柵線與柵線在物體上的投影相疊合， ... ,本公司發展全新Shadow Moire 陰影疊紋量測機台.此為一非接觸性,非破壞且全場性的檢測方法,可用來量測晶圓,IC packing,Diamond disk 表面輪廓和面外變形. ,試件的位移場量測，有其精確性及非接觸檢測的優點，故非常適合於. 量測半導體構 ..... 壞檢測、全域分析、非接觸性等優點的陰影疊紋術（shadow moiré）. 對半導體構 ... , 產品於生產、運輸和實際使用時，可能受到機械外應力的影響，藉由Mechanical Shock(MS)、Variable Frequency Vibration(VFV)、Constant ...
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