probe card
MPI懸臂式探針卡(Cantilever Probe Cards)全球市佔率排名第1,廣泛應用於各客戶的銲墊(pad)及金凸塊(gold bump)測試,藉由不斷的技術創新以因應半導體晶圓 ... ,MPI Cobra探針卡是各種半導體生產測試的成熟解決方案,包括晶圓大批量生產(HVM)。 基於改進的“屈曲光束”技術- 眼鏡蛇,這些卡適用於焊盤圖案,如全陣列, ... ,MPI邏輯探針卡已做好準備:精細間距小尺寸焊盤尺寸多行交錯焊盤佈局多重DUT(對角線或貨架)高引腳數低擺動高速高低溫測試. ,MPI探針卡是各種半導體生產測試的成熟解決方案,包括晶圓大批量生產(HVM)。 基於改進的“屈曲光束”技術- 眼鏡蛇,這些卡適用於焊盤圖案,如全陣列,半陣列, ... ,垂直探針卡為精測在晶圓測試推出的重要產品,其包含許多精測領先業界的先進技術。垂直探針卡(Vertical Probe Card)為晶圓未切割前,IC未完成封裝前的重要測試 ... ,MPI proudly introduces Enhanced Vertical Solution 80 (EVS80™) to the production probe card market. Where typical vertical probe card technologies have ... , ,MPI Parametric(WAT)探針卡適用於:超低漏電低電容小尺寸焊盤。 並行測試:MPI懸臂探針卡可輕鬆執行帶有對角線或擱板應用的多DUT配置,實現無與倫比的對準 ... , Probe Card for IC Testing 探針卡(probe card)是應用在積體電路(IC)尚未封裝前,對裸晶以探針(probe)做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的 ...,MPI's probe cards are used in wafer tests with small pad size, quad-site shelf ... These probe card are using for high parallelism, which reduce the cost of test ...
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Cantilever Probe Card
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