olt測試
本发明提供一种OLT测试的方法及装置，所述方法包括：下行GTC层接收GEM层发送的GEM报文，并按预设的GTC帧头格式将所述GEM报文封装为GTC帧数据；所述 ... ,本发明提供一种OLT测试的方法及装置，所述方法包括：下行GTC层接收GEM层发送的GEM报文，并按预设的GTC帧头格式将所述GEM报文封装为GTC帧数据；所述 ... , 下面就是一些IC 產品可靠性等級測試專案（IC Product Level reliability test items ） 一、使用壽命測試專案（Life test items）：EFR, OLT (HTOL), LTOL,半导体元件寿命试验与早夭失效率评估(IC OLT and ELFR Test) ... 寿命测试相较于一般测试项目而言相对复杂，主要在于老化板(Burn In Board) 的设计与制作。 ,可靠度(Reliability)；浴缸曲線(bathtub curve)；故障率單位(Failure unIT, FIT)；加速測試. (Accelerated Testing)；加速因子(Acceleration Factor). 電子與材料第8 期 ... ,半導體元件壽命試驗與早夭失效率評估（IC OLT and ELFR Test） ... 壽命測試相較於一般測試項目而言相對複雜，主要在於老化板（Burn-in Board）的設計與製作。 ,Bias &測試電壓---64/128CH(Bias正負電壓/測試正電壓設定) / 9999Hr. Bias & Test voltage –64/128CH(setting of bias positive &negative voltage /test positive ... , EM(Electromigration) ：評估各種材料在老化期的壽命表現。 對於不同產品屬性也有相對應的測試方法及條件，如HTGB(High Temperature Gate Bias) ..., EM(Electromigration) ：评估各种材料在老化期的寿命表现。 对于不同产品属性也有相对应的测试方法及条件，如HTGB(High Temperature Gate Bias) ...
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