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CN102710998B - 一种olt测试的方法及装置- Google Patents

本发明提供一种OLT测试的方法及装置,所述方法包括:下行GTC层接收GEM层发送的GEM报文,并按预设的GTC帧头格式将所述GEM报文封装为GTC帧数据;所述 ...

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IC 產品的質量與可靠性測試| 程式前沿

下面就是一些IC 產品可靠性等級測試專案(IC Product Level reliability test items ) 一、使用壽命測試專案(Life test items):EFR, OLT (HTOL), LTOL

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IC寿命试验与ELFR - services- 閎康

半导体元件寿命试验与早夭失效率评估(IC OLT and ELFR Test) ... 寿命测试相较于一般测试项目而言相对复杂,主要在于老化板(Burn In Board) 的设计与制作。

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IC產品可靠度簡介

可靠度(Reliability);浴缸曲線(bathtub curve);故障率單位(Failure unIT, FIT);加速測試. (Accelerated Testing);加速因子(Acceleration Factor). 電子與材料第8 期 ...

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元件可靠度服務 - services- 閎康

半導體元件壽命試驗與早夭失效率評估(IC OLT and ELFR Test) ... 壽命測試相較於一般測試項目而言相對複雜,主要在於老化板(Burn-in Board)的設計與製作。

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壽命試驗機--系統規格表(IC OLT Tester---2007) - 巨孚儀器--可 ...

Bias &測試電壓---64/128CH(Bias正負電壓/測試正電壓設定) / 9999Hr. Bias & Test voltage –64/128CH(setting of bias positive &negative voltage /test positive ...

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工作壽命試驗(OLT) - iST宜特

EM(Electromigration) :評估各種材料在老化期的壽命表現。 對於不同產品屬性也有相對應的測試方法及條件,如HTGB(High Temperature Gate Bias) ...

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工作寿命试验(OLT) - iST宜特

EM(Electromigration) :评估各种材料在老化期的寿命表现。 对于不同产品属性也有相对应的测试方法及条件,如HTGB(High Temperature Gate Bias) ...

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