oj表面分析
非平坦、拋光和均勻的樣品半定量; 對樣品尺寸的限制; 樣品必須和真空相容（不適合濕式有機材料）; 分析（和塗層）可能會破壞後續的表面分析; 對原子量較低的元素有 ... ,影像自動量測分析技術. LEARN MORE. 電性故障分析. LEARN MORE. FIB線路修補. LEARN MORE ... 表面分析(元素成分分析). LEARN MORE. IC封裝打線服務. , XPS可進行化學態分析(Chemical State Analysis)、縱深分析(Depth Profile)，分析材料表面各種元素分布的化學鏈結，且不受樣品導電性限制。,關鍵字：分析化學、鑑識科學、儀器分析、化學分離、層析法、質譜法、紅外線光譜法、掃瞄式電子顯微. /X-射線能譜 ... exchange principle)之意義，任何兩個物體表面，只要互. 相接觸， ... 在1996 年O.J. Simpson 的案件中，檢察官Marcia Clark. 就曾說過 ... ,公司TriVersa NanoMate® 晶片多通道納噴質譜、LESA 液滴萃取表面分析質譜、加拿大BSI 公司PEAKS 蛋白質體學質譜軟體、 美國Phoenix S&T 公司雙柱-雙奈噴 ... , 歐傑電子能譜儀(Auger,AES)是一種利用電子束作為激發源的高靈敏度表面分析(surface analysis)技術，樣品偵測深度小於10nm。AES具有奈米級單 ...,由於尺度效應，奈米材料之化學成分可應用表面化學分析技術分析。以X 射線為探測源，偵測被激發出、具元素特徵. 且動能低的光電子所得到之電子能譜可用來定性與 ... ,全產品分析項目 · 影像自動量測分析技術 · 電性故障分析 · FIB線路修補 · 非破壞性分析 · 材料分析 · 表面分析(元素成分分析) · IC封裝打線服務 · ESD測試與設計服務.
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全產品分析項目 · 影像自動量測分析技術 · 電性故障分析 · FIB線路修補 · 非破壞性分析 · 材料分析 · 表面分析(元素成分分析) · IC封裝打線服務 · ESD測試與設計服務. https://www.ma-tek.com |