icp-oes干擾
實際偵測極限，應配合實驗情況測得。 表一-icp-aes對各元素之測定波長和偵測極限. 三、干擾造成微量元素分析誤差之干擾因素包括： （一）光譜干擾光譜干擾可分為（1） 不同元素光譜的重疊（2） 分子光譜無法解析的重疊（3） 由光譜連續及電漿中物種之再結合現象造成之背景（4） 因高濃度元素迷光造成干擾。光譜的重疊可單獨測定干擾 ... ,利用ICP-OES或ICP-MS分析高鹽樣品時常可見易游離元素如鈉/鉀等，當有易游離元素出. 現時，會改變離子/原子比例進而影響所有易游離元素訊號值。早期ICP-OES以垂直向火炬. (Vertical Torch)/側向觀測(Radial Viewing)為主，但其觀測光徑較短，檢測極限能力也較. 差，但因其正常觀測區(NAZ)無尾焰，易游離元素離子化干擾問題 ... , 原标题：ICP–OES 常见干扰类型及校正方法探讨电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP–OES) 越来越多地应用于各类物质的分析检测。测定复杂样品时， 仪器出现各种干扰问题是影响测定结果准确性的主要因素。根据仪器原理及样品进入ICP 的顺序， 对可能出现的化学.,一、 ICP/OES 分析特點. ICP 光譜法是以ICP 為發射光源的光譜分析法，其全稱為感應耦合. 電漿發射光譜儀(inductively couple plasma optical emission spectrometry，簡稱ICP/OES)。由於ICP/OES 具有良好的偵測極限和分. 析精度，基質干擾小，線性動態范圍寬，分析者可以用標准物質配置一. 系列的標准，以及樣品處理簡單快捷等 ... ,Emission Spectrometry, ICP - OES）對水樣中多元素進行分析時，樣品先 ... 理干擾。光譜性干擾可以變更所選擇的譜線以避開譜線重疊的干擾；量. 測時，為補償因光譜背景值之不同所導致之誤差，應針對背景值進行修. 正，背景扣除之位置，必須儘可能避免其它譜 ... 流氣體流量來降低化學性干擾；物理性干擾可以利用稀釋樣品濃度或內. ,ICP-OES 分析当中需要注意的几个问题. 1 ICP-OES 样品予处理问题. 1.1 一般原则. A ：控制适当的称样量，保证待测元素的溶液浓度. (PPM 级别) 和样品溶液的总盐度( 适用于 ... 分析用谱线的选择主要考虑灵敏度( 强度) 和干扰情. 况，要根据样品中被测元素的含量和基体元素的影响。 ICP-AES 的干扰校正采用等效浓度校正的方法，干. ,D 不使用FBC 时的误差. 波长. ICP-OES 远离背景和干扰困扰. 准确、轻松、可靠. ICP Expert 软件提供的算法助您获得准确可靠的结果. 安捷伦提供两种不同的ICP-OES 背景校正算法：. – 拟合背景校正(FBC)，用于准确、快速地校正简单和复杂的背景. – 快速自动曲线拟合技术(FACT)，用于校正高度复杂的背景. 拟合背景校正(FBC). 特点. , 3 记忆效应. 在分析过程中， 样品会与进样毛细管、 泵管、雾化器、 雾室和中心炬管有接触， 形成一定的残留，尤其在测定Hg，As，B 等元素或高浓度样品时，ICP–OES 的记忆效应对样品测定有干扰。首先要避免高浓度样品进样测定， 其次可以延长清洗时间，用特定的清洗液清洗， 完成后用空白溶液进行测试以确定 ...,Agilent 700 series ICP-OES 操作手冊. 28. 四、光譜校正. FACT. 在儀器的系統上，建立待測元素、干擾元素、空白樣品、樣品基質的光譜圖模型。 利用這一些建立好的模型來解開光譜的干擾。建立好的模型可存到FACT Library. 中，日後分析可以不需再重新建立。如果要使用FACT Library，在系統的設置參. 數中，要將Drift correct with ... ,在1960 年代感應耦合電漿(inductively coupled plasma,ICP)開始應用於元素放射光譜儀. 之偵測，並對許多元素之分析有良好之分析結果。近期伴隨光學系統設計之演進及固態偵測. 器如CCD,CID 等之發展；使得ICP-OES 在無機分析上有更快速、準確及更低偵測極限之能. 力。再配合資料處理之軟體功能，可有效克服光譜干擾之效應； ...
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利用ICP-OES或ICP-MS分析高鹽樣品時常可見易游離元素如鈉/鉀等，當有易游離元素出. 現時，會改變離子/原子比例進而影響所有易游離元素訊號值。早期ICP-OES以垂直向火炬. (Vertical Torch)/側向觀測(Radial Viewing)為主，但其觀測光徑較短，檢測極限能力也較. 差，但因其正常觀測區(NAZ)無尾焰，易游離元素離子化干擾問題 ... http://www.xuan-chen.com ICP–OES常见干扰类型及校正方法(一)_中国百科网
原标题：ICP–OES 常见干扰类型及校正方法探讨电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP–OES) 越来越多地应用于各类物质的分析检测。测定复杂样品时， 仪器出现各种干扰问题是影响测定结果准确性的主要因素。根据仪器原理及样品进入ICP 的顺序， 对可能出现的化学. http://www.chinabaike.com ICPOES 原理概論
一、 ICP/OES 分析特點. ICP 光譜法是以ICP 為發射光源的光譜分析法，其全稱為感應耦合. 電漿發射光譜儀(inductively couple plasma optical emission spectrometry，簡稱ICP/OES)。由於ICP/OES 具有良好的偵測極限和分. 析精度，基質干擾小，線性動態范圍寬，分析者可以用標准物質配置一. 系列的標准，以及樣品處理簡單快捷等... http://file.yizimg.com 感應耦合電漿發射光譜儀iCAP 6000 Series 操作步驟
Emission Spectrometry, ICP - OES）對水樣中多元素進行分析時，樣品先 ... 理干擾。光譜性干擾可以變更所選擇的譜線以避開譜線重疊的干擾；量. 測時，為補償因光譜背景值之不同所導致之誤差，應針對背景值進行修. 正，背景扣除之位置，必須儘可能避免其它譜 ... 流氣體流量來降低化學性干擾；物理性干擾可以利用稀釋樣品濃度或內. http://www.dem.cyut.edu.tw ICP-OES 分析当中需要注意的几个问题
ICP-OES 分析当中需要注意的几个问题. 1 ICP-OES 样品予处理问题. 1.1 一般原则. A ：控制适当的称样量，保证待测元素的溶液浓度. (PPM 级别) 和样品溶液的总盐度( 适用于 ... 分析用谱线的选择主要考虑灵敏度( 强度) 和干扰情. 况，要根据样品中被测元素的含量和基体元素的影响。 ICP-AES 的干扰校正采用等效浓度校正的方法，干. http://www.thermo.com.cn ICP-OES 远离背景和干扰困扰 - Agilent
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3 记忆效应. 在分析过程中， 样品会与进样毛细管、 泵管、雾化器、 雾室和中心炬管有接触， 形成一定的残留，尤其在测定Hg，As，B 等元素或高浓度样品时，ICP–OES 的记忆效应对样品测定有干扰。首先要避免高浓度样品进样测定， 其次可以延长清洗时间，用特定的清洗液清洗， 完成后用空白溶液进行测试以确定 ... http://m.biaowu.com Agilent 700 series ICP-OES 感應耦合電漿發射光譜儀儀器操作手冊
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