icos f160

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The ICOS ™ F160 system examines packages after wafers have been diced, delivering fast, accurate die sort based on detection of key defect ...

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IC封裝缺陷檢測KLA-Tencor推新產品 - Wa-People 產業人物

圖說:KLA-Tencor宣布推出Kronos 1080和ICOS F160檢測系統,拓展IC封裝產品系列。 宣布推出兩款全新缺陷檢測產品,旨在解決各類IC所面臨的 ...

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KLA-Tencor 宣布推出Kronos ™ 1080 和ICOS ™ F160 檢測系統

ICOS™F160 系統在晶圓切割後對封裝進行檢查,根據關鍵缺陷. 的類型進行準確快速的晶片分類,其中包括對側壁裂縫這一新缺陷類型(影響高端 ...

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KLA-Tencor推出全新缺陷檢測產品 - Digitimes

ICOS F160系統在晶圓切割後對封裝進行檢查,根據關鍵缺陷的類型進行準確快速的晶片分類,其中包括對側壁裂縫這一新缺陷類型(影響高階封裝良 ...

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Packaging Manufacturing | KLA - KLA-Tencor

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光学检测系统 自动 快速- ICOS™ F160 - KLA - TENCOR

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