ellipsometry中文
橢圓偏光術 ( ellipsometry ) 為利用偏振光射入到待測樣本表面，分析反射光偏振態的一種精密量測技術。 ,橢圓偏振技術（ellipsometry）是一種多功能和強大的光學技術，可用以取得薄膜的介電性質（複數折射率或介電常數）。它已被應用在許多不同的領域，從基礎研究到工業應用 ... ,椭圆偏振技术（ellipsometry）是一种多功能和强大的光学技术，可用以取得薄膜的介电性质（复数折射率或介电常数）。它已被应用在许多不同的领域，从基础研究到工业应用 ... ,橢圓偏光術( ellipsometry ) 為利用偏振光射入到待測樣本表面，分析反射光偏振態的一種精密量測技術。橢圓儀的量測方法是量測待測樣本表面的橢偏參數( ellipsometric ... ,全新機台「橢圓偏光儀(Spectroscopic Ellipsometry)」優惠進駐，歡迎洽詢使用 · 量測光譜範圍：245nm – 1000nm · 光源：75瓦氙燈 · 測量方式：具備自動可變測量角度，透過電腦 ... ,椭圆偏振技术（ellipsometry）是一种多功能和强大的光学技术，可用以取得薄膜的介电性质（复数折射率或介电常数）。它已被应用在许多不同的领域，从基础研究到工业应用 ... ,简称“偏振测量术” “椭偏术”。利用椭圆偏振光在遇到样品被反射散射或透射时，其偏振状态的改变而实现的一种测试技术。常用于测量薄膜的厚度、折射率等光学常数，并广泛用于 ...,In-situ spectroscopic ellipsometry can be used to determine nucleation and growth parameters, precise optical properties without significant surface roughness ...
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外差干涉式橢圓儀 - 校訊
橢圓偏光術 ( ellipsometry ) 為利用偏振光射入到待測樣本表面，分析反射光偏振態的一種精密量測技術。 https://enews.cgu.edu.tw 橢圓偏振技術- 維基百科，自由的百科全書
橢圓偏振技術（ellipsometry）是一種多功能和強大的光學技術，可用以取得薄膜的介電性質（複數折射率或介電常數）。它已被應用在許多不同的領域，從基礎研究到工業應用 ... https://zh.wikipedia.org 椭圆偏振技术- 维基百科，自由的百科全书
椭圆偏振技术（ellipsometry）是一种多功能和强大的光学技术，可用以取得薄膜的介电性质（复数折射率或介电常数）。它已被应用在许多不同的领域，从基础研究到工业应用 ... https://zh.wikipedia.org Ellipsometer-橢圓偏光儀檢測使用及管理辦法
橢圓偏光術( ellipsometry ) 為利用偏振光射入到待測樣本表面，分析反射光偏振態的一種精密量測技術。橢圓儀的量測方法是量測待測樣本表面的橢偏參數( ellipsometric ... https://emo.ntut.edu.tw 全新機台「橢圓偏光儀(Spectroscopic Ellipsometry)」優惠進駐
全新機台「橢圓偏光儀(Spectroscopic Ellipsometry)」優惠進駐，歡迎洽詢使用 · 量測光譜範圍：245nm – 1000nm · 光源：75瓦氙燈 · 測量方式：具備自動可變測量角度，透過電腦 ... https://cnmm.site.nthu.edu.tw 椭圆偏振技术
椭圆偏振技术（ellipsometry）是一种多功能和强大的光学技术，可用以取得薄膜的介电性质（复数折射率或介电常数）。它已被应用在许多不同的领域，从基础研究到工业应用 ... https://baike.baidu.com 中文：椭圆偏振测量术；英文：ellipsometry
简称“偏振测量术” “椭偏术”。利用椭圆偏振光在遇到样品被反射散射或透射时，其偏振状态的改变而实现的一种测试技术。常用于测量薄膜的厚度、折射率等光学常数，并广泛用于 ... https://www.auniontech.com 椭圆偏振光谱仪：基本概念
In-situ spectroscopic ellipsometry can be used to determine nucleation and growth parameters, precise optical properties without significant surface roughness ... https://www.horiba.com |