defect inspection中文
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Wafer Surface Inspection System LS Series Wafer surface inspection system to detect various types of small defects on non-patterned wafer of next generation ... https://www.hitachi-hightech.c 國家圖書館期刊文獻資訊網中文期刊篇目系統：查詢服務
Integrated Two Hopfield Neural Networks for Automatic LED Defect Inspection. 張傳育; 張傳旺; 林思延; 鄭慕德; 中國機械工程學刊; 29:1 2008.02[民97.02]; 頁45- ... http://readopac3.ncl.edu.tw 自動光學檢測系統與創新構思問題解決法(TRIZ)之整合應用-以 ...
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論文英文名稱：, Development of Automatic TFT-LCD Mura Defect Detection [以 ... 中文關鍵詞：, 薄膜電晶體液晶顯示器 ； 平面顯示器 ； Mura瑕疵 ； 離散餘弦轉換 ... https://ir.lib.ntut.edu.tw 電子束檢測- 维基百科，自由的百科全书
概述[编辑]. 電子束檢測（Electrons Beam inspection，簡稱E-beam inspection、EBI），用於半導體元件的缺陷(defects)檢驗，以電性缺陷(Electrical ... 维基百科，自由的百科全书. 2017-04-01 （中文）. PROVision™ eBeam Inspection | Applied Materials ... https://zh.wikipedia.org |