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自動測試圖樣產生（英語：Automatic test pattern generation, ATPG）系統是一種工具，產生資料給製造出來後的數碼電路作測試使用。 ,自動測試圖樣產生（英語：Automatic test pattern generation, ATPG）系統是一種工具，產生資料給製造出來後的數位電路作測試使用。 超大型積體電路的測試平台，要達到非常高的錯誤涵蓋率（Fault coverage（英語：Fault coverage））是非常困難的工作，因為它的複雜度很高。 針對組合邏輯電路（Combinatorial logic）和序向邏輯 ... ,自動測試圖樣產生（英语：Automatic test pattern generation, ATPG）系統是一種工具，產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用。 超大型積體電路的测试平台，要達到非常高的錯誤涵蓋率（Fault coverage（英语：Fault coverage））是非常困難的工作，因為它的複雜度很高。 針對组合逻辑电路（Combinatorial logic）和时序逻辑 ... ,Eftersom det för varje grind i kretsen behövs en detektering av ett flertal olika fel som kan uppstå och eftersom grindens utgångar och/eller ingångar ofta inte är direkt observerbara är det ett komplext och oöverskådligt problem att lösa. ATPG verktyg an, ATPG是自動測試圖形向量生成是在半導體電器測試中使用的測試圖形向量由程序自動生成的過程。測試向量按順序地載入與器件的輸入腳上，輸出的信號被收集並與預算好的測試向量相比較從而判斷測試的結果。ATPG有效性是衡量測試錯誤覆蓋率的重要指標。,ATPG-ATPG是自动测试图形向量生成是在半导体电器测试中使用的测试图形向量由程序自动生成的过程。测试向量按顺序地加载与器件的输入脚上，输出的信号被收集并与预算好的测试向量相比较从而判断测试的结果。ATPG有. ,跳到 Sequential ATPG - ATPG is an electronic design automation method/technology used to find an input (or test) sequence that, when applied to a digital circuit, enables automatic test equipment to distinguish between the correct circuit behavior and the ,If the response is the same or matches, the circuit is good. Otherwise, the circuit is not manufactured as it was intended. DFT plays an important role in the development of test programs and as an interface for test application and diagnostics. Automatic,Clock signal which is used for controlling all the FFs in the chain during shift phase and the capture phase. An arbitrary pattern can be entered into the chain of flip-flops, and the state of every flip-flop can be read out. In a full scan design, automa,Test compression is a technique used to reduce the time and cost of testing integrated circuits. The first ICs were tested with test vectors created by hand. It proved very difficult to get good coverage of potential faults, so Design for testability (DFT
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 atpg wiki 相關參考資料
ATPG - Wikiwand
自動測試圖樣產生（英語：Automatic test pattern generation, ATPG）系統是一種工具，產生資料給製造出來後的數碼電路作測試使用。 http://www.wikiwand.com ATPG - 維基百科，自由的百科全書 - Wikipedia
自動測試圖樣產生（英語：Automatic test pattern generation, ATPG）系統是一種工具，產生資料給製造出來後的數位電路作測試使用。 超大型積體電路的測試平台，要達到非常高的錯誤涵蓋率（Fault coverage（英語：Fault coverage））是非常困難的工作，因為它的複雜度很高。 針對組合邏輯電路（Combinatorial logic）和序向邏輯&nbs... https://zh.wikipedia.org ATPG - 维基百科，自由的百科全书
自動測試圖樣產生（英语：Automatic test pattern generation, ATPG）系統是一種工具，產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用。 超大型積體電路的测试平台，要達到非常高的錯誤涵蓋率（Fault coverage（英语：Fault coverage））是非常困難的工作，因為它的複雜度很高。 針對组合逻辑电路（Combinatorial logic）和时序逻辑&nbs... https://zh.m.wikipedia.org ATPG – Wikipedia
Eftersom det för varje grind i kretsen behövs en detektering av ett flertal olika fel som kan uppstå och eftersom grindens utgångar och/eller ingångar ofta inte är direkt observerbara är det ett kompl... https://sv.wikipedia.org ATPG- 台灣Wiki
ATPG是自動測試圖形向量生成是在半導體電器測試中使用的測試圖形向量由程序自動生成的過程。測試向量按順序地載入與器件的輸入腳上，輸出的信號被收集並與預算好的測試向量相比較從而判斷測試的結果。ATPG有效性是衡量測試錯誤覆蓋率的重要指標。 http://www.twwiki.com ATPG_互动百科
ATPG-ATPG是自动测试图形向量生成是在半导体电器测试中使用的测试图形向量由程序自动生成的过程。测试向量按顺序地加载与器件的输入脚上，输出的信号被收集并与预算好的测试向量相比较从而判断测试的结果。ATPG有. http://www.baike.com Automatic test pattern generation - Wikipedia
跳到 Sequential ATPG - ATPG is an electronic design automation method/technology used to find an input (or test) sequence that, when applied to a digital circuit, enables automatic test equipment to di... https://en.wikipedia.org Design for testing - Wikipedia
If the response is the same or matches, the circuit is good. Otherwise, the circuit is not manufactured as it was intended. DFT plays an important role in the development of test programs and as an in... https://en.wikipedia.org Scan chain - Wikipedia
Clock signal which is used for controlling all the FFs in the chain during shift phase and the capture phase. An arbitrary pattern can be entered into the chain of flip-flops, and the state of every f... https://en.wikipedia.org Test compression - Wikipedia
Test compression is a technique used to reduce the time and cost of testing integrated circuits. The first ICs were tested with test vectors created by hand. It proved very difficult to get good cover... https://en.wikipedia.org |