atpg occ
(clock divider)将OCC 的时钟分为4 个clock 域,若用上述提 ... 摘要: 文中介绍了在DFT 与ATPG 阶段均可通过各自的方法来达到降低测试功耗的目的, 以实际项目为 ... ,and ATPG aspects, and explaining the specificities of the design in term of OCC Test implementation, focusing on the scan at-speed test of synchronous ... , SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是:产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX;插入scan chain ..., 扫描测试(又叫ATPG)。scan path。 ... Clock MUX必须放在OCC模块/DFT MUX之前。 2. 时钟大于50MHz时,使用OCC模块,否则使用DFT MUX。,Automatic test pattern generation (ATPG) for transition and stuck- at test have ... transition test for each clock domain they requires one OCC per clock domain. , OCC :On Chip Clock. OPCG :On-Product Clock Gating. SCM:scan clock mux. 上面三種是同一東西的不同叫法. 就是為了at-speed ATPG測試時 ..., 所以,OCC电路实现了在shift阶段和capture阶段对时钟(PLL/ATE)进行选择的 ... [ATPG]set_atpg -capture_cycles d 中的d(数字)代表什么意思?, OCC(On-Chip Clocking)電路的實現在做SCAN的時候,由於ATE時鐘速度和芯片port的傳輸速度 ... ATPG debug要熟悉TetraMAX工具的一些功能。,1)设计中有OCC模块,因为是采用Mentor公司的ATPG工具和occ方案,所以要求设计中所有的在chain上的flip-flop cell在scan mode下的test clock ... , SCAN 技术,也就是ATPG 技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是: ... 2 使用Design compiler 插入scan chain和OCC (on chipclocking)模块,同时 ...
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