Poly CD 半導體

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Poly CD 半導體

Method. 溫度©. 用途. Remark poly-Si. SiH4. LP. 500~700. 半導体. 溫度控制結晶度. Si3N4. DCS+NH3. LP ... CD( critical dimension) : ... 從製程上來說: 指在半導體上製做出氧化層及金屬層等, 最後做出積體電路(ICs)的一種製程技術. 從電路上來說: ... ,半導體的蝕刻可分為乾式蝕刻與溼式蝕刻:1) 溼式. 蝕刻利用 ... 為一高密度蝕刻系統,主要用於多晶矽(Poly-Silicon)的蝕 ... 廓,在光阻下產生底切效應並造成CD損失。 ,答:PSM (Phase Shift Mask)不同於Cr mask, 利用相位幹涉原理成象,目前大都應用在contact layer以及較小CD的Critical layer(如AA,POLY,METAL1)以增加圖形 ... ,多晶矽(poly)通常用來形容半導體電晶體之部分結構:至於. 在某些半導體元件上常見 ... 在下個製程階段中,半導體商用CD-SEM 來量測晶片內次微. 米電路之微距,以 ... ,critical dimension (CD) of Deep Trench Poly Hard Mask Open (DTPHMO) ... 對於DRAM半導體的溝槽式製程而言,DTPHMO蝕刻製程技術是決定深溝孔徑的. CD ... ,dimension,CD) 差異問題,主要是因為黃光在能量和焦距設定不適當,以致黃光在. 曝光後之 ... 在半導體製程中,沈積多晶矽(Poly film)時,一般都是利用爐管方式做沈積,. , 答:柵極線的寬(該尺寸的大小代表半導體工藝水平的高低)做的越小時,工藝的難度便相對提高。從0.35um ... 答:幾P幾M代表矽片的製造有幾層的Poly(多晶矽)和幾層的metal(金屬導線). ... ③STI etch 後的CD尺寸大小控制。, 答:Poly CD、Gate oxide Thk. (柵氧化層厚度)、AA(有源區)寬度及Vt imp. ... 答:接觸窗電阻,具體指金屬和半導體(contact)或金屬和金屬(via),在相 ...,等,其製造原理是在矽半導體上,做出由IC所組成之電子元 ... Poly Contact (SC) ... 蝕刻(Line/Hole) → 去光阻(Asher) → CD SEM 量測(AEI) → 後測QC → 後清洗→.

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Poly CD 半導體 相關參考資料
IC 製程簡介

Method. 溫度©. 用途. Remark poly-Si. SiH4. LP. 500~700. 半導体. 溫度控制結晶度. Si3N4. DCS+NH3. LP ... CD( critical dimension) : ... 從製程上來說: 指在半導體上製做出氧化層及金屬層等, 最後做出積體電路(ICs)的一種製程技術. 從電路上來說: ...

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什麼是蝕刻(Etching)?

半導體的蝕刻可分為乾式蝕刻與溼式蝕刻:1) 溼式. 蝕刻利用 ... 為一高密度蝕刻系統,主要用於多晶矽(Poly-Silicon)的蝕 ... 廓,在光阻下產生底切效應並造成CD損失。

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半導體制造、Fab以及Silicon Processing的基本知識- 頁3 - winggundam

答:PSM (Phase Shift Mask)不同於Cr mask, 利用相位幹涉原理成象,目前大都應用在contact layer以及較小CD的Critical layer(如AA,POLY,METAL1)以增加圖形 ...

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半導體製程簡介

多晶矽(poly)通常用來形容半導體電晶體之部分結構:至於. 在某些半導體元件上常見 ... 在下個製程階段中,半導體商用CD-SEM 來量測晶片內次微. 米電路之微距,以 ...

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國立交通大學機構典藏- 交通大學

critical dimension (CD) of Deep Trench Poly Hard Mask Open (DTPHMO) ... 對於DRAM半導體的溝槽式製程而言,DTPHMO蝕刻製程技術是決定深溝孔徑的. CD ...

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第一章緒論

dimension,CD) 差異問題,主要是因為黃光在能量和焦距設定不適當,以致黃光在. 曝光後之 ... 在半導體製程中,沈積多晶矽(Poly film)時,一般都是利用爐管方式做沈積,.

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零基礎入門晶片製造行業---PIE(Ⅰ) - 每日頭條

答:柵極線的寬(該尺寸的大小代表半導體工藝水平的高低)做的越小時,工藝的難度便相對提高。從0.35um ... 答:幾P幾M代表矽片的製造有幾層的Poly(多晶矽)和幾層的metal(金屬導線). ... ③STI etch 後的CD尺寸大小控制。

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零基礎入門晶片製造行業---PIE(Ⅱ) - 每日頭條

答:Poly CD、Gate oxide Thk. (柵氧化層厚度)、AA(有源區)寬度及Vt imp. ... 答:接觸窗電阻,具體指金屬和半導體(contact)或金屬和金屬(via),在相 ...

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~報告內容~

等,其製造原理是在矽半導體上,做出由IC所組成之電子元 ... Poly Contact (SC) ... 蝕刻(Line/Hole) → 去光阻(Asher) → CD SEM 量測(AEI) → 後測QC → 後清洗→.

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