KLA eDR7380
eDR7380™电子束晶圆缺陷检视和晶圆分类系统可以拍摄高分辨率的缺陷图像，从而精确反映晶圆上的缺陷群体状况。eDR7380内置多种电子光学元件和专用的镜头内探测器，对 ... ,With a wide range of electron optics and a dedicated In-Lens Detector, the eDR7380 supports defect visualization across process steps, including fragile EUV ... ,2019年7月8日 — 憑藉一流的圖像質量和通過一次測試獲得完整缺陷柏拉圖(pareto)的獨特能力，. eDR7380 電子束晶圓缺陷檢視系統可以在開發中更加迅速地發現缺陷來源，同時在 ... ,2020年3月25日 — eDR7380電子束晶圓缺陷檢視系統具有領先影像品質以及通過一次測試即提供完整缺陷柏拉圖分析的功能；與其前幾代產品相比，該系統可以在檢測過程中更快地確定 ... ,电子束晶圆缺陷检视和分类系统eDR7380™电子束晶圆缺陷检视和晶圆分类系统可以拍摄高分辨率的缺陷图像，从而精确反映晶圆上的缺陷群体状况。eDR7380内置多种电子光学元件 ... ,在Moov 交易市集上購買或銷售二手的KLA eDR-7380。數以千計的已驗證上架商品，每天皆會新增工具。 ,KLA 公司近日发布392x 和295x 光学缺陷检测系统和. eDR7380 ™电子束缺陷检视系统。这些全新的检测. 系统是KLA 公司旗舰产品系列——图案晶圆平台的. 进一步拓展，其检测速度 ... ,,2019年7月15日 — 【時報-台北電】設備大廠KLA發布392x和295x光學缺陷檢測系統和eDR7380電子束缺陷檢視系統。這些全新的檢測系統是KLA公司的旗艦圖案晶圓平台的拓展，其 ... ,2019年7月23日 — KLA公司發布392x和295x光學缺陷檢測系統和eDR7380電子束缺陷檢視系統。這些全新的檢測系統是KLA旗艦圖案晶圓平台的拓展，其檢測速度和靈敏度均獲提升， ...
| 相關軟體 yEd 資訊 | |
|---|---|
 KLA eDR7380 相關參考資料
缺陷检测与复检- 芯片制造
eDR7380™电子束晶圆缺陷检视和晶圆分类系统可以拍摄高分辨率的缺陷图像，从而精确反映晶圆上的缺陷群体状况。eDR7380内置多种电子光学元件和专用的镜头内探测器，对 ... https://www.kla.com Defect Inspection & Review | Chip Manufacturing
With a wide range of electron optics and a dedicated In-Lens Detector, the eDR7380 supports defect visualization across process steps, including fragile EUV ... https://www.kla.com KLA 發布全新缺陷檢測與檢視產品組合
2019年7月8日 — 憑藉一流的圖像質量和通過一次測試獲得完整缺陷柏拉圖(pareto)的獨特能力，. eDR7380 電子束晶圓缺陷檢視系統可以在開發中更加迅速地發現缺陷來源，同時在 ... https://www.kla.com 光學+電子束新一代晶圓檢測系統讓缺陷無所遁形
2020年3月25日 — eDR7380電子束晶圓缺陷檢視系統具有領先影像品質以及通過一次測試即提供完整缺陷柏拉圖分析的功能；與其前幾代產品相比，該系統可以在檢測過程中更快地確定 ... https://www.eettaiwan.com 光学检查机eDR7xxx™ series 晶圆用于电子工业裂纹
电子束晶圆缺陷检视和分类系统eDR7380™电子束晶圆缺陷检视和晶圆分类系统可以拍摄高分辨率的缺陷图像，从而精确反映晶圆上的缺陷群体状况。eDR7380内置多种电子光学元件 ... https://www.directindustry-chi 二手的KLA eDR-7380 設備
在Moov 交易市集上購買或銷售二手的KLA eDR-7380。數以千計的已驗證上架商品，每天皆會新增工具。 https://tw.moov.co KLA发布全新缺陷检测与检视产品组合
KLA 公司近日发布392x 和295x 光学缺陷检测系统和. eDR7380 ™电子束缺陷检视系统。这些全新的检测. 系统是KLA 公司旗舰产品系列——图案晶圆平台的. 进一步拓展，其检测速度 ... https://www.siscmag.com Meet Our New eDR7380 | Last month our eDR7380™ e-beam ...
https://www.facebook.com 《產業》KLA發布全新缺陷檢測與檢視產品組合
2019年7月15日 — 【時報-台北電】設備大廠KLA發布392x和295x光學缺陷檢測系統和eDR7380電子束缺陷檢視系統。這些全新的檢測系統是KLA公司的旗艦圖案晶圓平台的拓展，其 ... https://tw.stock.yahoo.com KLA發布全新缺陷檢測與檢視產品組合
2019年7月23日 — KLA公司發布392x和295x光學缺陷檢測系統和eDR7380電子束缺陷檢視系統。這些全新的檢測系統是KLA旗艦圖案晶圓平台的拓展，其檢測速度和靈敏度均獲提升， ... https://www.digitimes.com.tw |