橢偏儀 廠商
BRAND: Sentech; DESCRIPTION: 全光譜式橢圓儀適用於單層或多層之不同材料結構的薄膜量測. 量測各種光學薄膜的厚度、折射率以及消光系數等. 原廠國家: ... ,橢圓偏振術量測紫外光到可見光波長橢圓參數. 0.1nm以上奈米級光學薄膜厚度量測. 400波長以上多通道分光的橢偏儀,高速量測橢圓偏光光譜. 可自由變換反射量測 ... ,橢圓儀/ Spectroscopic Ellipsometry ( SE ). 技術簡介: 橢圓偏振技術技術是一種超高精度的光學測試方法,被廣泛運用到薄膜厚度量測及奈米結構的光學特性測試。 ,J.A.Woollam Co,Inc.橢圓儀專精於全光譜橢圓偏光儀的生產,橢圓儀,光譜反射式膜厚量測儀用以量測薄膜的膜厚及折射率(n)、消光系數(k)等。材質包含各種類型如: ... ,里華科技公司經營的業務範圍涵蓋電子、光學影像、CD-R、半導體以及TFT-LCD產業等。 目前產品有:國內自行研製UV-VIS-NIR全光譜橢圓偏光測量儀(橢偏儀),用 ... ,里華科技經營的業務範圍涵蓋電子、光學影像、CD-R、半導體、 TFT-LCD、LED、Touch Panel、 Epaper以及太陽能光伏產業。 產品:全光譜橢圓儀(SE)、全光譜 ... ,目前所代理的產品有:法國SOPRA公司的Spectroscopic Ellipsometer(全光譜橢圓儀,用於膜厚度量測,量測範圍:150nm~20μm)及Laser Annealing System(應用 ... ,目前產品有:國內自行研製UV-VIS-NIR全光譜橢圓偏光測量儀(橢偏儀),用於膜厚量測,及國內自行研發之UV-VIS-NIR全光譜反式膜厚測量儀(反射儀),以及專為 ... ,服務清單第1頁。鼎昕科技(股)公司,產品包括:雷射白光源,模擬太陽光,橢偏儀,eqe,霍爾,影像ccd,膜厚量測,積分球led,光. ,雷射白光光源,模擬太陽光,橢偏儀,eqe,霍爾量測,影像ccd,膜厚量測,積分球led,光電量測,光電零組件,照明量測.提供學術,研究,軍研,太陽能,LED,生醫,顯示器,半導體等高 ...
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