探 針卡
Cantilever Probe Card designed for the most cost-effective production. MPI懸臂式探針卡(Cantilever Probe Cards)全球市佔率排名第1,廣泛應用於各 ... ,垂直探針卡(Vertical Probe Card)為晶圓未切割前,IC未完成封裝前的重要測試介面,透過Probe Card 可 ... ,2020年12月7日 — 探針卡市場年複合成長率逾6%. 在各種測試介面及治具中,探針卡(Probe Card)成長性備受期待,其由Probe head(探針)、interposer(載板)、PCB ... ,新特系統2014於新竹成立,座落於竹北台元科技園區內,產業以探針卡(Probe Card)設計、製造、維修為主,並涵蓋PCB佈局、測試系統設計(例:高速電路設計、 ... , ,探針卡(英語:Probe card)是晶圓與电子测试系统之間的媒介。探針卡通常直接放在探測器上並用接線連接測試機。它的目的是提供晶片與測試機之間的連結,並 ... ,MPI | Probe Cards | Probe Stations | Wafer Probe Stations | LED Test | Wafer Probing Station | Semiconductor Wafer Test | Environmental Test Chambers ... ,探針卡(probe card)為晶圓測試時的重要測試介面,製程上包含多項先進製造技術。晶圓在未切割、IC封裝前須透過Probe Card測試晶圓品質,以避免不良品封裝, ... ,Cobra Probe Cards. MPI Cobra 探針卡為不同的半導體測試市場提供有效以及可大量生產(HVM) 的測試解決 ...
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