掃描鏈
循序電路(Sequential Circuit)的測試往往藉由插入掃描鏈(Scan Chain)的方式將測試資料(Test Pattern)傳送給待測的電路(Circuit Under Test, CUT); 藉由掃描鏈串聯 ... ,掃描鏈(scan chain)的設計在DFT(design for testability)中被廣泛的使用。在deep sub-micron中,電路的面積會變的更大且密度也會變高。在這種情況下使用掃描鏈的 ... ,再者,就是將測試資料(test vector)輸入(shift into)到掃描鏈(scan chain)時,需要耗費大量的時間。而為了解決測試時所花費的時間,我們提出了一個不需要額外增加硬 ... , 透過將設計中的序列元素配置到多個移位暫存器(shift registers)來測試邏輯,這類技術被稱為掃描鏈(scan chain),可用於後續測試機台的載入和卸載 ...,电子工程术语定义:扫描链. 术语表:扫描链 (scan chain). 定义: 表示一种设计技术,将内部寄存器或触发器串行连接,使外部电路可以方便地对其内容进行读取,或将 ... ,扫描链(英语:Scan chain)是可测试性设计的一种实现技术。它通过植入移位寄存器,使得测试人员可以从外部控制和观测电路内部触发器的信号值。... ,掃描鏈(英語:Scan chain)是可測試性設計的一種實現技術。它通過植入移位暫存器,使得測試人員可以從外部控制和觀測電路內部觸發器的信號值。 ,掃描鏈(英語:Scan chain)是可測試性設計的一種實現技術。它通過植入移位暫存器,使得測試人員可以從外部控制和觀測電路內部觸發器的信號值。 ,最近以來,在掃描測試上實現低功率一直是個挑戰。先前有許多的研究都是著重在降低移動功率,只有少部分的研究有考慮到捕捉功率。在捕捉測試結果時,大量的切換 ...
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