宜特htol

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驗證分析專家iST宜特,提供晶片除錯、IC驗證、FIB電路修改、故障分析、可靠度測試、材料分析、訊號測試、工程樣品製備.

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兩大難關!Warpage翹曲先進封裝在車用可靠度的挑戰 ... - iST宜特

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宜特導入HOTL高功率IC壽命模擬測試設備 - 電子工程專輯.

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宜特導入HTOL試驗解決方- 產業快訊- 新通訊元件雜誌

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宜特導入HTOL試驗解決方| 新通訊

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宜特發表高功率高溫工作壽命試驗方案- 產業動態- 新電子科技 ...

宜特推出高功率IC壽命模擬測試設備--高溫工作壽命試驗(High Temperature Operating Life Test, HTOL)解決方案,將可協助IC設計公司以更簡易、 ...

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工作壽命試驗(OLT) - iST宜特

HTOL(High Temperature Operating Life):評估可使用期的壽命時間-FIT / MTTF。 EM(Electromigration) :評估各種材料在老化期的壽命表現。

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溫溼度試驗(TemperatureHumidity) - iST宜特

溫溼度試驗(Temperature with Humidity),是藉由高溫、高濕、高壓的加速因子下,驗證評估非密封性包裝之電子零組件中,封裝材質與內部線路對濕 ...

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聯絡宜特 - 聯絡窗口- iST宜特

8:30AM~4:00PM; 電話:+886-3-5799909#1111 或0928-732111; 免費收送專線:0800-668-797. 委案收送件窗口 ...

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非揮發性記憶體可靠度試驗(NVRAM) - iST宜特

... 協助數個記憶體大廠進行非揮發性記憶體耐久性測試經驗。 可協助客戶編輯Flash 測試Pattern,另可提供編輯DDR3/DDR4/LPDDR2 HTOL/ELFR ...

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