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為了回饋長久以來支持宜特的客戶和廠商，並響應環保，宜特釋出各項前代 ... SEM/EDX (液態), B14040004 (FLD0004), 掃描式電子顯微鏡SEM ..., IC有問題，想抓出缺陷，卻總是選錯分析方式與儀器?近乎隱形的製程問題，奈米等級的表面汙染缺陷，該如何選擇到位的分析方式呢?宜特在驗證 ..., 若您在製程中發現異物，想進一步查明未知汙染物/未知材質，iST宜特可協助您進行定性未知物分析、微汙染分析，針對碳(C)、氫(H) 、 氧(O)所鍵結的 ..., 掃描式電子顯微鏡，又掃描電鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要是利用微小聚焦的電子束(Electron Beam)進行樣品表面掃描。 此電子 ..., 先進製程檢測最佳解決方案！微觀尺寸的材料成份、特性與結構主宰著巨觀世界裡的物質特性，因此在新技術開發階段或是失效分析領域中材料分析 ..., 穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron microscopy, TEM)主要是一種使用高能量電子束讓超薄的樣品成像，其影像解析度可達0.1奈米的原子 ..., 8:30AM~4:00PM; 電話：+886-3-5799909#1111 或0928-732111; 免費收送專線：0800-668-797. 委案收送件窗口 ..., 幾種分析的方式被使用在這次的作業中，其中包含光學顯微鏡（OM）、掃描電子顯微鏡（SEM）、X光能量色散譜（EDX）、原子力顯微鏡（AFM）、X光電子 ..., Dual-beam FIB機台能在使用離子束切割樣品的同時，用電子束對斷面進行觀察，亦可進行EDX的成分分析。具備超高解析度的離子束及電子束 ..., 宜特可協助以CP進行約1mm大範圍剖面的製備，由於不受應力影響，因此更適用於任何材料樣品表面之材料特性分析，樣品處理範圍約可達500μm.
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