分bin
一般口頭上會說「分Bin」。測試程式在規劃之初,會有「Bin別定義的安排」。例如:好品歸類為Bin 1。壞品歸類為Bin 4等。當然Bin別定義不會如此簡單。, 依測試結果所作的分類,英文稱為Binning。一般口頭上會說「分Bin」。測試程式在規劃之初,會有「Bin別定義的安排」。例如:好品歸類為Bin 1。壞品歸 ...,硬體機構. 直震入料光性測試後,依光性分bin. 應用元件. 各式Top view SMD LED產品. 分Bin數. 128 Bin. 元件供應方式. 振動入料系統元件散裝自動供料. 點測方式. , LED分bin 分类基本知识- 人眼對於光的顏色及亮度的解析度非常高,特別是對於顏色的差異和變化非常敏感。圖2-14 所示的是人眼對顏色變化的 ..., LED的分選有兩種方法:一是以晶片為基礎的分選,二是對封裝好的LED ... 其結果是把LED分成很多檔(Bin)和類彆,然後測試分選機會自動地根據 ...,光台暖白光分BIN范围规范- 作業指導書主題暖白光BIN 範圍說明頁次1/4 目的配合不同客戶需求,規範暖白光規則, 提昇入bin率及競爭力一.暖白光BIN 說明1.... ,分Bin圖(Bin Chart). 把LED的數種不同特性如顏色波長、色溫等進行等級排列,使相同等級裡的LED封裝或LED晶片呈現落在等級數值範圍裡的表現。用來定義LED ... ,根據上述製程的需要,FAB 廠內通常可分為四大區:. (一)黃光 ..... 的完整性,並對已測試的產品,依其電性功能作分類(即分Bin),作為IC 不同等級產品的評. 價依據; ... , WAT是不分Bin, 只有CP test, FT test才會分Bin. 晶圓的CP test, 是測量每一顆die是否符合規格, 是否可用. Probe card是點針在die的metal pad上.
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A 半導體積體電路測試概論第五章直流參數測試 - 白安鵬
一般口頭上會說「分Bin」。測試程式在規劃之初,會有「Bin別定義的安排」。例如:好品歸類為Bin 1。壞品歸類為Bin 4等。當然Bin別定義不會如此簡單。 http://ictesting-tom.blogspot. led bin code | Yahoo奇摩知識+
依測試結果所作的分類,英文稱為Binning。一般口頭上會說「分Bin」。測試程式在規劃之初,會有「Bin別定義的安排」。例如:好品歸類為Bin 1。壞品歸 ... https://tw.answers.yahoo.com LED 測試分類機
硬體機構. 直震入料光性測試後,依光性分bin. 應用元件. 各式Top view SMD LED產品. 分Bin數. 128 Bin. 元件供應方式. 振動入料系統元件散裝自動供料. 點測方式. https://www.ytec.com.tw LED分bin 分类基本知识_百度文库
LED分bin 分类基本知识- 人眼對於光的顏色及亮度的解析度非常高,特別是對於顏色的差異和變化非常敏感。圖2-14 所示的是人眼對顏色變化的 ... https://wenku.baidu.com LED分選技術簡介- LEDinside
LED的分選有兩種方法:一是以晶片為基礎的分選,二是對封裝好的LED ... 其結果是把LED分成很多檔(Bin)和類彆,然後測試分選機會自動地根據 ... https://www.ledinside.com.tw 光台暖白光分BIN范围规范_百度文库
光台暖白光分BIN范围规范- 作業指導書主題暖白光BIN 範圍說明頁次1/4 目的配合不同客戶需求,規範暖白光規則, 提昇入bin率及競爭力一.暖白光BIN 說明1.... https://wenku.baidu.com 分Bin圖 - Rainbow-Light - 專精於各式光譜儀及光譜之應用產品。 | 東方 ...
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根據上述製程的需要,FAB 廠內通常可分為四大區:. (一)黃光 ..... 的完整性,並對已測試的產品,依其電性功能作分類(即分Bin),作為IC 不同等級產品的評. 價依據; ... http://www.taiwan921.lib.ntu.e 請問半導體(晶圓)用語WAT和Bin是什麼意思呢? | Yahoo奇摩知識+
WAT是不分Bin, 只有CP test, FT test才會分Bin. 晶圓的CP test, 是測量每一顆die是否符合規格, 是否可用. Probe card是點針在die的metal pad上. https://tw.answers.yahoo.com |