典型的晶體缺陷

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典型的晶體缺陷

點缺陷. 晶格空位(Vacancy defect)或肖特基缺陷(Schottky defect); 間隙缺陷(Interstitial defect)或弗倫克爾缺陷(Frenkel defect) · 線缺陷. 刃位錯(edge ... ,點缺陷 · 晶格空位:一個晶格格位上缺失了一個粒子(原子,離子甚至分子)。如果有其他的雜質原子或離子佔據了這個空位,就會形成了替代式雜質。晶體的許多光學性質,例如 ... ,2017年9月2日 — 幾十年來的研究證實,動態缺陷大多源於單顆原子在空間中的躍動,稱為「原子二能級系統(atomic TLSs)」。至於材料中的奈米尺度晶粒(nanocrystalline ... ,2021年9月17日 — 正常格位上的阴离子和阳离子受激等电量地扩散到晶体表. 面(或晶界),而在晶体内留下阴、阳离子空位缺陷对。 Schottky's defect-pair 易出现于典型离子 ... ,2024年2月2日 — 進一步討論氮化鎵的差排種類分析之前,將先介紹差排的基礎概念和TEM分析差排型晶體缺陷的技術,助益讀者瞭解如何用TEM分析氮化鎵晶體內的差排。 差排的 ... ,2. 外在缺陷(extrinsic defects):外來的雜質原子進入基質晶體中. 構成的缺陷,又稱雜質缺陷。 (1) 間隙式雜質缺陷:雜質原子進入晶體後,可以擠進基質晶. 體原子間隙 ... ,2024年4月9日 — 禦抗氫脆是人類百年來的挑戰,在材料設計的策略中,創造特殊微結構作為氫陷阱(hydrogen trap)以限制氫擴散是抑制氫脆的重要方法,鋼鐵中的典型氫陷阱為TiC ... ,典型的材料為日常生活中隨處可. 見的玻璃,所以非晶質也常被稱為玻璃相. (Glass ... 圖1是完整無缺陷的晶體示意圖,晶體. 中所有的晶格(或原子)整齊排列,沒有錯. 位的晶 ... ,書名:晶體生長中輸運現象及晶體缺陷,語言:簡體中文,ISBN:9787030611628,頁數:351,出版社:科學出版社,作者:方海生等,出版日期:2019/06/01,類別:自然科普 ...

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典型的晶體缺陷 相關參考資料
晶體缺陷- 維基百科,自由的百科全書

點缺陷. 晶格空位(Vacancy defect)或肖特基缺陷(Schottky defect); 間隙缺陷(Interstitial defect)或弗倫克爾缺陷(Frenkel defect) · 線缺陷. 刃位錯(edge ...

https://zh.wikipedia.org

晶體- 維基百科,自由的百科全書

點缺陷 · 晶格空位:一個晶格格位上缺失了一個粒子(原子,離子甚至分子)。如果有其他的雜質原子或離子佔據了這個空位,就會形成了替代式雜質。晶體的許多光學性質,例如 ...

https://zh.wikipedia.org

固體裡那或多或少的缺陷,和奈米元件——《物理雙月刊》

2017年9月2日 — 幾十年來的研究證實,動態缺陷大多源於單顆原子在空間中的躍動,稱為「原子二能級系統(atomic TLSs)」。至於材料中的奈米尺度晶粒(nanocrystalline ...

https://pansci.asia

晶体结构缺陷

2021年9月17日 — 正常格位上的阴离子和阳离子受激等电量地扩散到晶体表. 面(或晶界),而在晶体内留下阴、阳离子空位缺陷对。 Schottky's defect-pair 易出现于典型离子 ...

http://home.ustc.edu.cn

TEM分析穩固GaN元件功能掌握差排晶體缺陷(1) - 新電子

2024年2月2日 — 進一步討論氮化鎵的差排種類分析之前,將先介紹差排的基礎概念和TEM分析差排型晶體缺陷的技術,助益讀者瞭解如何用TEM分析氮化鎵晶體內的差排。 差排的 ...

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第四章基礎理論4.1 晶體導電性質理想的介電質(dielectric) ...

2. 外在缺陷(extrinsic defects):外來的雜質原子進入基質晶體中. 構成的缺陷,又稱雜質缺陷。 (1) 間隙式雜質缺陷:雜質原子進入晶體後,可以擠進基質晶. 體原子間隙 ...

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以碳化物晶體缺陷工程發展氫脆禦抗策略淨零時代的氫能 ...

2024年4月9日 — 禦抗氫脆是人類百年來的挑戰,在材料設計的策略中,創造特殊微結構作為氫陷阱(hydrogen trap)以限制氫擴散是抑制氫脆的重要方法,鋼鐵中的典型氫陷阱為TiC ...

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差排密度類型無所遁形- TEM分析揪出GaN單晶缺陷

典型的材料為日常生活中隨處可. 見的玻璃,所以非晶質也常被稱為玻璃相. (Glass ... 圖1是完整無缺陷的晶體示意圖,晶體. 中所有的晶格(或原子)整齊排列,沒有錯. 位的晶 ...

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晶體生長中輸運現象及晶體缺陷

書名:晶體生長中輸運現象及晶體缺陷,語言:簡體中文,ISBN:9787030611628,頁數:351,出版社:科學出版社,作者:方海生等,出版日期:2019/06/01,類別:自然科普 ...

https://www.books.com.tw