內建自測試
BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。 中文名: 内建自测; 外文名: Built-in ... ,以內建自我測試 進行詞彙精確檢索結果 ... 內建自我測試, built-in self-test=BIST}. 學術名詞 電子工程, 內建自我測試, built in self ... 自律內建自測 autonomous built-in ... , ATE：ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據客戶的測試要求、圖紙 ... bist是內建自測試，一般有rambist、flashbist等，它是內部集成專門測試 ...,內建自我測試（built-in self-test, BIST）也稱為內建測試（built-in test、BIT），是一種讓設備可以自我檢測的機制，也是可測試性設計的一種實現技術。工程師會為了符合 ... ,内建自我测试（built-in self-test, BIST）也稱為内建测试（built-in test、BIT），是一種讓設備可以自我檢測的機制，也是可测试性设计的一种实现技术。工程師會為了符合 ... ,内建自我测试（built-in self-test, BIST）也称为内建测试（built-in test、BIT），是一种让设备可以自我检测的机制，也是可测试性设计的一种实现技术。工程师会为了符合 ... ,内建自测试（英语：built-in self-test, BIST）是可测试性设计的一种实现技术。... , 記憶體內建式自我測試(MBIST)技術可以自動實現記憶體單元或陣列的RTL級內建自測試電路，MBIST的EDA工具支援多種測試演算法的自動實現， ..., 包括邊界掃描（Boundary Scan）、自動測試向量產生電路（ATPG）、錯誤模擬測試工具（Fault Simulation）及內建自我測試（Built-in Self Test；BIST）， ...
| 相關軟體 Construct 2 資訊 | |
|---|---|
 內建自測試 相關參考資料
BIST_百度百科
BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。 中文名: 内建自测; 外文名: Built-in ... https://baike.baidu.com built-in self test - 內建自我測試 - 國家教育研究院雙語詞彙
以內建自我測試 進行詞彙精確檢索結果 ... 內建自我測試, built-in self-test=BIST}. 學術名詞 電子工程, 內建自我測試, built in self ... 自律內建自測 autonomous built-in ... http://terms.naer.edu.tw SOC中的DFT和BIST對比與比較-IC學習筆記（二） - IT閱讀
ATE：ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據客戶的測試要求、圖紙 ... bist是內建自測試，一般有rambist、flashbist等，它是內部集成專門測試 ... https://www.itread01.com 內建自測試- Wikiwand
內建自我測試（built-in self-test, BIST）也稱為內建測試（built-in test、BIT），是一種讓設備可以自我檢測的機制，也是可測試性設計的一種實現技術。工程師會為了符合 ... https://www.wikiwand.com 内建自测试- 维基百科，自由的百科全书
内建自我测试（built-in self-test, BIST）也稱為内建测试（built-in test、BIT），是一種讓設備可以自我檢測的機制，也是可测试性设计的一种实现技术。工程師會為了符合 ... https://zh.wikipedia.org 内建自测试- 维基百科，自由的百科全书 - Wikipedia
内建自我测试（built-in self-test, BIST）也称为内建测试（built-in test、BIT），是一种让设备可以自我检测的机制，也是可测试性设计的一种实现技术。工程师会为了符合 ... https://zh.wikipedia.org 内建自测试_百度百科
内建自测试（英语：built-in self-test, BIST）是可测试性设计的一种实现技术。... https://baike.baidu.com 嵌入式記憶體的可測試設計技術 - 電子工程專輯.
記憶體內建式自我測試(MBIST)技術可以自動實現記憶體單元或陣列的RTL級內建自測試電路，MBIST的EDA工具支援多種測試演算法的自動實現， ... https://archive.eettaiwan.com 類比混合訊號之內建式自我測試電路 - CTimes
包括邊界掃描（Boundary Scan）、自動測試向量產生電路（ATPG）、錯誤模擬測試工具（Fault Simulation）及內建自我測試（Built-in Self Test；BIST）， ... https://www.ctimes.com.tw |