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FIB機台自行操作訓練公告(12/20報名截止), [ 102/11/20]. 新SEM SU8010機台教育訓練, [ 102/11/08]. 未申請通過自行操作非奈米中心儀器而偷使用者, 停權四周處治 ... ,交大機械系電子顯微鏡SEM開放使用服務及收費辦法 pdf. 交大機械系SEM操作訓練等級考核申請表 doc: This is an image odt. SEM繳費預約使用申請表(一週內只能 ... ,交通大學材料系擁有最堅強的師資陣容、最前瞻的高科技研究方向、最尖端的設備、最新最大 ... Dual beam (focused ion beam & electron beam) System (FIB/SEM) ... ,一、儀器名稱 ＊中文名稱： 場發射掃描式電子顯微鏡 ＊英文名稱：Field Emission Scanning Electron Microscope ＊英文簡稱：FE-SEM. 二、儀器廠牌、型號、購置年限 ... ,Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM. ,中文名稱, 冷場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀器(SEM SU-8010), 英文名稱, Cold Field Emission Scanning Electron Microscope (Hitachi SU8010) ... ,SEM比較. S4700. SU8010. 收費方式. 已從國科會貴重儀器計畫除役，現金付費. 可使用國科會研究計畫付費. 地點. 電子資訊研究大樓7 樓710 實驗室. 交大光復校區 ... ,SEM系統、展阻量測系統作管理及維護。 英文姓名. Fan, Hsiu-Lan, E-mail, [email protected]. 聯絡電話. 辦公室: 03-5712121轉55672. 實驗室: 03-5712121 ... ,本設備之博士後研究人員提供委託操作CL(陰極螢光分析系統)與SEM(掃瞄式電子顯微鏡)及服務諮詢, 諮詢服務時間：每週一至五上午八時到下午五時,地點：工程六 ... ,中文名稱, 高解析度場發射掃描電子顯微鏡暨能量散佈分析儀(SEM S-4700I), 英文名稱, High-Resolution Scanning Electron Microscope & Energy Dispersive ...
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交大機械系電子顯微鏡SEM開放使用服務及收費辦法 pdf. 交大機械系SEM操作訓練等級考核申請表 doc: This is an image odt. SEM繳費預約使用申請表(一週內只能 ... http://www.me.nctu.edu.tw 儀器設備-國立交通大學材料科學與工程學系所
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Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM. http://www.mse.nctu.edu.tw 冷場發射掃描式電子顯微鏡暨能量散佈分析儀器 - 交通大學奈米中心
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本設備之博士後研究人員提供委託操作CL(陰極螢光分析系統)與SEM(掃瞄式電子顯微鏡)及服務諮詢, 諮詢服務時間：每週一至五上午八時到下午五時,地點：工程六 ... http://rd.nctu.edu.tw 高解析度場發射掃描電子顯微鏡暨能量散佈分析儀 ... - 交通大學奈米中心
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