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FIB (TESCAN GAIA3)機台自行操作訓練公告(8/17報名截止), [ 107/07/25]. 7/10~7/20『學生代表』選舉活動開跑, [ 107/07/09]. R120黃光室光阻冰箱整理通告 ... ,加入會員及申請訓練者請先至本中心網站下載『FIB實驗申請單』,詳填資訊後,e-mail至[email protected]並以電話或E-mail與儀器負責人洽詢訓練考核相關 ... ,可用時段, :已被佔用時段. Cryo-TEM的預約狀態:. 0~1, 1~2, 2~3, 3~4, 4~5, 5~6, 6~7, 7~8, 8~9, 9~10, 10~11, 11~12, 12~13, 13~14, 14~15, 15~16, 16~17, 17~18 ... ,交通大學材料系擁有最堅強的師資陣容、最前瞻的高科技研究方向、最尖端的設備、最新最大 ... Dual beam (focused ion beam & electron beam) System (FIB/SEM) ... ,NFC 國立交通大學奈米中心. National Chiao Tung ... 公共安全, 機台, FIB (TESCAN GAIA3)機台自行操作訓練公告(3/1報名截止), [108/02/14]. 資源收集, 其他, 108 ... ,... 名已有FIB或任何電子顯微鏡相關機台使用執照之自行操作學習者之訓練費用,其訓練費用為直接扣抵21小時上機之費用。機台將於2017/03/01開始正式對外開放。 , 2.離子源:Ga液態金屬離子源. 3.加速電壓:電子束—200V~30kV、 離子束—500V~30kV. 4.影像解析度:SEM—1.5nm at 15kV、FIB—2.5nm at 30kV., 1.電子源:場發射式. 2.離子源:Ga液態金屬離子源. 3.加速電壓:電子束—0.5~30kV、 離子束—5~30kV. 4.影像解析度:SEM—1.5nm、FIB—7nm. 5.,聚焦離子束與電子顯微鏡(FIB/SEM)自行操作申請流程. 一、確定申請資格符合. (1).完成認證者須負責訓練後續使用者一名(有工讀費補助),除此以外,可訓練同一實驗 ... ,聚焦離子束與電子束顯微系統. http://www.nfc.nctu.edu.tw/mechine_new/mechine/FIB2.htm. ::: 國立交通大學研究發展處 新竹市大學路1001號圖書館8F 交通大學 ...

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交大fib 相關參考資料
NFC 國立交通大學奈米中心

FIB (TESCAN GAIA3)機台自行操作訓練公告(8/17報名截止), [ 107/07/25]. 7/10~7/20『學生代表』選舉活動開跑, [ 107/07/09]. R120黃光室光阻冰箱整理通告 ...

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中心設備介紹Introduction to equipment - 國立交通大學奈米科技中心 ...

加入會員及申請訓練者請先至本中心網站下載『FIB實驗申請單』,詳填資訊後,e-mail至[email protected]並以電話或E-mail與儀器負責人洽詢訓練考核相關 ...

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交大奈米科技中心預約系統

可用時段, :已被佔用時段. Cryo-TEM的預約狀態:. 0~1, 1~2, 2~3, 3~4, 4~5, 5~6, 6~7, 7~8, 8~9, 9~10, 10~11, 11~12, 12~13, 13~14, 14~15, 15~16, 16~17, 17~18 ...

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儀器設備-國立交通大學材料科學與工程學系所

交通大學材料系擁有最堅強的師資陣容、最前瞻的高科技研究方向、最尖端的設備、最新最大 ... Dual beam (focused ion beam & electron beam) System (FIB/SEM) ...

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國立交通大學奈米中心

NFC 國立交通大學奈米中心. National Chiao Tung ... 公共安全, 機台, FIB (TESCAN GAIA3)機台自行操作訓練公告(3/1報名截止), [108/02/14]. 資源收集, 其他, 108 ...

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國立交通大學奈米科技中心Center for Nano Science & Technology ...

... 名已有FIB或任何電子顯微鏡相關機台使用執照之自行操作學習者之訓練費用,其訓練費用為直接扣抵21小時上機之費用。機台將於2017/03/01開始正式對外開放。

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聚焦離子束與電子束顯微系統 - 交通大學奈米中心

2.離子源:Ga液態金屬離子源. 3.加速電壓:電子束—200V~30kV、 離子束—500V~30kV. 4.影像解析度:SEM—1.5nm at 15kV、FIB—2.5nm at 30kV.

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聚焦離子束與電子束顯微系統(FIB) - 交通大學奈米中心

1.電子源:場發射式. 2.離子源:Ga液態金屬離子源. 3.加速電壓:電子束—0.5~30kV、 離子束—5~30kV. 4.影像解析度:SEM—1.5nm、FIB—7nm. 5.

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聚焦離子束與電子顯微鏡 - 交通大學奈米中心

聚焦離子束與電子顯微鏡(FIB/SEM)自行操作申請流程. 一、確定申請資格符合. (1).完成認證者須負責訓練後續使用者一名(有工讀費補助),除此以外,可訓練同一實驗 ...

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貴重儀器@ 國立交通大學研究發展處

聚焦離子束與電子束顯微系統. http://www.nfc.nctu.edu.tw/mechine_new/mechine/FIB2.htm. ::: 國立交通大學研究發展處 新竹市大學路1001號圖書館8F 交通大學 ...

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