中山 光電 儀器
儀器名稱：CDD光束光場分析儀Beam Profiler 用途：光場量測 廠牌與型號：ELECTROPHYICS(7290A) 重要規格：波長400~2200 nm 管理者：朱安國林哲緯 放置 ... ,儀器預約使用及其代工之費用標準以各實驗室訂定為準。 繳費方式：請至國IR2002室系辦繳費(可以現金繳費或開立收據轉帳) 電匯者： 戶名：國立中山大學校務 ... ,儀器名稱： 光學頻譜分析儀Optical Spectrum Analyzer (OSA) 用途：光譜分析 廠牌與型號：ANDO(6317) 重要規格：波長600-1750 nm 管理者 朱安國林哲緯 放置 ... ,名稱 ：光譜分析儀Spectroscopy 用途： 可用來檢測與光譜分析 廠牌與型號： Synapse 重要規格： Focal Length：320 mm Aperture ：f/4.1 Spectral Range： 1. ,財產(設備)(場地)名稱, 誤碼分析儀40G Bit Error Rate System (BERT System). 用途, 本儀器由五項分析儀器組成，廠牌型號如下： a. Agilent71612A Error Detector ,請欲預約使用者，請直接跟實驗室聯繫，儀器使用完畢請至系辦開立收據，謝謝。 儀器收費請參閱下方附件. icon 中山光電系共用實驗室儀器收費標準 (若您在此 ... ,財產(設備)(場地)名稱 橢偏儀Ellipsomete 用途 量測折射率與消光係數 廠牌與型號：SOPRA 重要規格： 1. 試片大小須大於1㎝ × 1㎝，最好2㎝ × 2㎝。 2. 基板上 ... ,儀器名稱：熱重損失分析儀Thermogravimetric Analyzer (TGA) 用途：將待測物從室溫加熱到一定溫度觀察樣品重量變化，可得到熱穩定性及材料含量分析。 ,財產(設備)(場地)分類 儀器 財產(設備)(場地)編號 CL055001 財產(設備)(場地)名稱 表面輪廓儀Surface Profiler (α-step) 用途 量測各種膜厚 廠牌與型號：DEKTAK ... ,儀器名稱：雷射光源Millenia Pro 用途：雷射光源 廠牌與型號： Spectra-Physics 重要規格： a.波長: 532nm b.光模式: TEM00 c.光束直徑(在1/e2 處量測) : 0.45 mm ...
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CDD光束光場分析儀Beam Profiler - 國立中山大學光電工程學系
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