surfscan原理
美國加州聖荷西2007 年1 月xx 日訊— KLA-Tencor (NASDAQ: KLAC) 於今日正式推出新的Surfscan., Puma 9980、CIRCL5 和Surfscan SP5能夠及早識別各種生產線、製程及工具監控應用上的良率偏差,協助晶片製造商加快產能提升,並最大限度地 ..., KLA-Tencor公司推出Voyager 1015與Surfscan SP7兩款全新缺陷檢測產品,在矽晶圓和晶片製造領域中針對尖端邏輯和記憶體節點,為設備和製程 ..., KLA-Tencor Corporation宣佈推出新一代Surfscan 系列晶圓缺陷與表面品質檢測系統── Surfscan SP3 。 Surfscan SP3 系統是首款採用深 ..., Puma 9850、Surfscan SP5 和 eDR-7110 — 為 16nm 及 ... 9850 雷射掃描圖案化晶圓缺陷檢測系統和 Surfscan SP5 無圖案晶圓檢測系統可提供 ..., 今年KLA-Tencor 推出四款新的系統──2920系列、Puma 9850、Surfscan SP5 和eDR-7110 — 為16nm 及以下的晶片研發與生產提供更先進的 ...,THE SURFSCAN SP2 WAFER SURFACE INSPECTION SYSTEM provides the increased ... tool ever introduced, the Surfscan SP2 features UV illumination. , 答:利用IPA(異丙醇)和水共溶原理將晶圓表面的水份去除. 測Particle時,使用何種測量儀器? 答:Tencor Surfscan. 測蝕刻速率時,使用何者量測儀器?,Surfscan SP2 檢測系統的使用能夠減少生產成本,藉由延長某些監控晶圓重新使用的壽命,並且減少新測試晶圓的. 需要。對於大型的晶圓代工廠,這個新技術能夠 ... ,KLA-Tencor Surfscan 6420. 產品介紹:. Equipment description: ‧Purpose: Unpatterned Surface Inspection System, to monitor: Bare silicon wafers and bare ...
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