SP7 kla
The Surfscan® SP7XP unpatterned wafer inspection system identifies defects and surface quality issues that affect the performance and reliability of ... ,KLA-Tencor 发布VoyagerTM 1015 和Surfscan® SP7 缺陷检测系统：. 解决工艺和设备监控中的两个关键挑战. 加利福尼亚州米尔皮塔斯，2018年7月10 日-- 今天，KLA-Tencor ... ,KLA-Tencor 發布VoyagerTM 1015 和Surfscan® SP7 缺陷檢測系統：. 解決製程和設備監控中的兩個關鍵挑戰. 加利福尼亞州米爾皮塔斯，2018 年7 月10 日-- ... ,As an extension of the Surfscan SP7, the Surfscan SP7XP incorporates new hardware technologies and innovative algorithms that enable. ,2020年12月7日 — Today, KLA Corporation announced our new Surfscan® SP7XP wafer defect inspection system. This new member of our Surfscan family of ... ,The Surfscan SP7 system delivers unprecedented defect sensitivity on bare wafers, and smooth and rough films. Together the two new inspection systems are ... ,了解KLA的Voyager 1015和Surfscan SP7晶圆检测系统如何解决过程和设备监控中的两个关键挑战。 ,... KLA 發布全新缺陷檢測與檢視產品組合 · KLA-Tencor 宣布推出Kronos 1080 和ICOS F160 檢測系統 · KLA-Tencor 發布Voyager 1015 和Surfscan SP7 缺陷檢測系統 ... ,Surfscan®SP7XP无图案晶圆检测系统可以帮助识别缺陷和表面质量问题，这些问题都会影响先进逻辑和存储器件的性能与可靠性。该系统通过鉴定和监控设备、制程和材料（包括 ...
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