結構光雷射
三維測量系統的應用範圍廣泛,相對於高單價的雷射測量系統,具有結構光技術的3D測量系統相對便宜與快速,因而成為主流。以下將以結構光測量系統為例,闡述三維測量系統之原理與應用。 三維結構光測量系統架構. 將光柵圖案透過投影的方式投射到場景中的技術,就稱為結構光。結構光的概念與立體視覺法類似,立體視覺法使用 ... , 只要在空間中打上這樣的結構光,整個空間就都被做了標記,把一個物體放進這個空間,只要看看物體上面的散斑圖案,就可以知道這個物體在什麼位置了。當然,在這之前要把整個空間的散斑圖案都記錄下來,所以要先做一次光源基準標定(pattern)。LightCoding發射940nm波長的近紅外雷射,透過diffuser(光柵、 ..., 可編程圖形結構光可編程圖形掃描儀使用具有數字空間光調製器(SLM)的雷射或LED光源將一系列圖形投射到物體表面上。通過使用多個圖形,一個可編程結構光掃描儀能夠獲得更高的準確性,並且能夠根據環境光照條件、物體表面,以及物體光反射特性來改變圖形。 由於可編程圖形結構光需要顯示多個圖形,空間 ...,雷射結構光 在影像/視覺檢測,藉由輔助光源來改善畫像品質與維持判讀的正確度,已經是必要且普遍工具之一。其中,由Lasiris公司所創新設計研發製造的SNF系列二極體雷射結構光源,在機器視覺、3D立體輪廓、精密定位等應用領域都有顯著且成功的案例。 ,小型結構光雷射二極體模組是能產生均勻強度光線的最小二極體雷射套件。They are designed for integration into systems where size and weight are limited, but where performance cannot be compromised. These modules are fully focusable, feature ESD, over-temperature, and reverse-polarity protecti, 本研究主旨為改良既有之非接觸式雷射結構光三維檢測系統,透過雷射結構光、光學取像、機構、軟體控制與加熱系統五大模組的整合,並使用兩台CCD相機,改善前一代量測系統之三維量測之能力與提升其精度。本系統使用多條線雷射結構光作為主動式光源,此結構光源乃是雷射光經過一繞射片產生多條線的雷射 ..., 文/蓉蓉. 在機器視覺領域,結構光是不可不說的重頭戲,可以說,沒有結構光的引導,體感攝像頭就無法「看見」世界,下面做個關於黑科技「結構光」的科普。 1何為結構光? 結構光是3D掃描的一個光學方法。它將雷射器發出的光束經過光學系統形成某種形式的光,包括點、單線、多線、單圓、同心多圓、網格、十字交叉、 ..., 本研究旨在開發一套非接觸式雷射結構光三維檢測系統,透過雷射結構光、光學取像、機構、軟體與輸送帶五大模組的整合,量測系統具備三維量測之能力。本系統使用多條線雷射結構光作為主動式光源,此結構光源乃是雷射光經過一繞射片產生多條線的雷射條紋;雷射結構光投射在物體上會呈現多條曲線,利用CCD ...,確,提高系統的量測精度,並完成不同校正點. 密度之下,影像平面對映空間座標之相機透視. 矩陣代表性與誤差分析,驗證了校正點的分佈. 位置及數量影響著量測系統的誤差量及誤差分. 佈範圍。 2. 針對雷射干涉儀無法量測,具有高傾斜率平面. 微物體如V-groove 等微機電元件,本研究所發. 展之量測系統可以投影數位結構光來進行 ... ,本文雷射線結構光應用於物體表面及3D輪廓之精細量測主要是在發展一種快速簡易非接觸式的量測方法,並以程式來監測物體表面的變化和形狀。利用光學量測的優勢,本系統有非接觸性、非破壞性、儀器架設快速、全場域的量測、不受量測空間侷限等優點。且本系統的光源來自雷射光源,故可以做較長距離的量測,不同陰影量測法有 ...
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確,提高系統的量測精度,並完成不同校正點. 密度之下,影像平面對映空間座標之相機透視. 矩陣代表性與誤差分析,驗證了校正點的分佈. 位置及數量影響著量測系統的誤差量及誤差分. 佈範圍。 2. 針對雷射干涉儀無法量測,具有高傾斜率平面. 微物體如V-groove 等微機電元件,本研究所發. 展之量測系統可以投影數位結構光來進行 ... http://www2.kuas.edu.tw 雷射線結構光應用於物體表面及3D輪廓之精細量測__國立中央大學博 ...
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