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TOF-SIMS在細胞影像分析之應用

內處,和以一次離子入射處為中心而直徑為100?左右之圓型立體區域中的物質,再經上述過程傳遞來的能量會大到足以克服表面束縛能(Surface binding energy) ...

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二次離子質譜儀SECONDARY ION MASS SPECTROMETER ...

二次離子質譜儀SECONDARY ION MASS SPECTROMETER, (SIMS) ... 清華大學. 清華大學高能材料館. (舊物理二館)一樓116 室. 儀器指導教授:凌永健教授.

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儀器服務 - 貴重儀器中心 - 清華大學

03-5715131. HPLC/MS-MS · 高性能液相層析串聯質譜儀. 林俊成教授. 吳心如. 35409. HRMS · 高解析質譜儀. 劉瑞雄教授. 林淑琪. 33347. SIMS · 二次離子質譜儀.

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元素成分分析 - services- 閎康

Q3. SIMS 那些元素可以定量? A. 常用材料大部分有標準品可定量,如欲分析元素的材料恰好沒有標準片,仍可定性利用強度 ...

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凌永健- CHEM@NTHU - 國立清華大學化學系

Chen BJ, Lee PL, Chen WY, Mai FD, Ling YC*, “Hair Dye distribution in human hair by ToF SIMS”, APPLIED SURFACE SCIENCE. 2006, 252-19: 6786-6788.

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國立清華大學貴重儀器中心

請填寫網站簡述.

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清華大學貴重儀器使用中心儀器一覽表 - 國立清華大學貴重儀器 ...

二次離子質譜儀(SIMS). 化學系. 高能材料館116室. 35480. 王瓊琪. 電子順磁共振光譜儀(EPR). 化學系. 化學館131室. 62240. 陳若琪. 霍氏轉換紅外光譜儀(FTIR).

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飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)

NSCRIC, 國立清華大學貴重儀器中心.

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飛行時間二次離子質譜儀的原理與應用 - 儀科中心

Time-of-flight secondary ion mass spectrometer (TOF-SIMS) is capable of simultaneously analyzing ... 麥富德先生為國立清華大學化學系博士,現任奈膜科技.

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