晶 圓 允收測試
本发明涉及晶圆允收测试程式的管理系统及其应用方法，包括读取单元、存储单元、查询单元和显示单元；存储单元中有若干批次产品的产品批号数据及与每批次产品的产品批号 ... ,WAT (Wafer Acceptance Test,晶圆允收测试)是芯片制造过程中重要的测量站点。基本原理是测试位于晶圆上切割道的测试键(test key)，由测试出的关键参数的结果给出晶圆上芯片 ... ,[0002] 集成电路芯片制造过程是一个需要精密控制的过程，一个小的疏漏都会引起大量的产品报废。WAT (Wafer Acceptance Test,晶圆允收测试)是芯片制造过程中重要的测量站点 ... ,本发明提供了一种晶圆允收测试系统和方法，包括探针卡，探针台，测试装置，还包括：控制模块，用于接收测试结构的初始位置参数，控制探针与晶圆上的测试结构相接触， ... ,標題: 半導體中晶圓允收測試資料之命名對齊機制設計. Naming Alignment Design for Semiconductor Wafer-Acceptance-Test Data. 作者: 陳榮輝 ,論文摘要晶圓允收測試(wafer acceptance test, WAT)，其功能在於對晶圓做初步的電性量測，以作為晶圓出貨給代工客戶的依據。其測試的電性參數，如電容、電壓、電阻… ,由 黃賢文 著作 · 2009 — 晶圓允收測試(wafer acceptance test, WAT)，其功能在於對晶圓做初步的電性量測，以作為晶圓出貨給代工客戶的依據。其測試的電性參數，如電容、電壓、電阻… ,To speed up trend detection of WAT data without resorting to an intensive computing power, an end-of-line SHEWMAC scheme is proposed, which combines a ...,關鍵字：指數加權移動平均法；晶圓允收測試資料；統計製程管制；異常狀態；異常趨勢. 晶圓允收測試資料係指晶圓在完成所有製造程序後，測試結構所量測的電性測試參數。
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標題: 半導體中晶圓允收測試資料之命名對齊機制設計. Naming Alignment Design for Semiconductor Wafer-Acceptance-Test Data. 作者: 陳榮輝 https://scholars.lib.ntu.edu.t 博碩士論文行動網
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關鍵字：指數加權移動平均法；晶圓允收測試資料；統計製程管制；異常狀態；異常趨勢. 晶圓允收測試資料係指晶圓在完成所有製造程序後，測試結構所量測的電性測試參數。 https://www.grb.gov.tw |