晶圓 允收測試
台積公司更深入解析物理量測資料、晶圓允收測試. （Wafer Acceptance Test）、缺陷測試、品質保證證明. （Certificate of Assurance, CoA）、晶圓測試（Circuit. ,本发明涉及晶圆允收测试程式的管理系统及其应用方法，包括读取单元、存储单元、查询单元和显示单元；存储单元中有若干批次产品的产品批号数据及与每批次产品的产品批号 ... ,WAT (Wafer Acceptance Test,晶圆允收测试)是芯片制造过程中重要的测量站点。基本原理是测试位于晶圆上切割道的测试键(test key)，由测试出的关键参数的结果给出晶圆上芯片 ... ,WAT (Wafer Acceptance Test,晶圆允收测试)是芯片制造过程中重要的测量站点。基本原理是测试位于晶圆上切割道的测试键(test key)，由测试出的关键参数的结果给出晶圆 ... ,本发明提供了一种晶圆允收测试系统和方法，包括探针卡，探针台，测试装置，还包括：控制模块，用于接收测试结构的初始位置参数，控制探针与晶圆上的测试结构相接触， ... ,標題: 半導體中晶圓允收測試資料之命名對齊機制設計. Naming Alignment Design for Semiconductor Wafer-Acceptance-Test Data. 作者: 陳榮輝 ,來源期刊:工業工程學刊卷期:18:4 民90.07 頁次:頁37-47 (6388445),由 黃賢文 著作 · 2009 — 晶圓允收測試(wafer acceptance test, WAT)，其功能在於對晶圓做初步的電性量測，以作為晶圓出貨給代工客戶的依據。其測試的電性參數，如電容、電壓、電阻… ,晶圓允收測試(wafer acceptance test, WAT)，其功能在於對晶圓做初步的電性量測，以作為晶圓出貨給代工客戶的依據。其測試的電性參數，如電容、電壓、電阻… ,論文摘要晶圓允收測試(wafer acceptance test, WAT)，其功能在於對晶圓做初步的電性量測，以作為晶圓出貨給代工客戶的依據。其測試的電性參數，如電容、電壓、電阻…
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5.3 卓越製造
台積公司更深入解析物理量測資料、晶圓允收測試. （Wafer Acceptance Test）、缺陷測試、品質保證證明. （Certificate of Assurance, CoA）、晶圓測試（Circuit. http://www.tsmc.com CN103199041B - 晶圆允收测试程式的管理系统及其应用方法
本发明涉及晶圆允收测试程式的管理系统及其应用方法，包括读取单元、存储单元、查询单元和显示单元；存储单元中有若干批次产品的产品批号数据及与每批次产品的产品批号 ... https://patents.google.com CN103344898A - 晶圆允收测试系统及方法 - Google Patents
WAT (Wafer Acceptance Test,晶圆允收测试)是芯片制造过程中重要的测量站点。基本原理是测试位于晶圆上切割道的测试键(test key)，由测试出的关键参数的结果给出晶圆上芯片 ... https://patents.google.com CN103344898A - 晶圆允收测试系统及方法- Google Patents
WAT (Wafer Acceptance Test,晶圆允收测试)是芯片制造过程中重要的测量站点。基本原理是测试位于晶圆上切割道的测试键(test key)，由测试出的关键参数的结果给出晶圆 ... https://www.google.com CN104049197A - 晶圆允收测试系统和允收测试方法 - Google
本发明提供了一种晶圆允收测试系统和方法，包括探针卡，探针台，测试装置，还包括：控制模块，用于接收测试结构的初始位置参数，控制探针与晶圆上的测试结构相接触， ... https://www.google.com 半導體中晶圓允收測試資料之命名對齊機制設計| NTU Scholars
標題: 半導體中晶圓允收測試資料之命名對齊機制設計. Naming Alignment Design for Semiconductor Wafer-Acceptance-Test Data. 作者: 陳榮輝 https://scholars.lib.ntu.edu.t 建構半導體晶圓允收測試資料挖礦架構及其實證研究
來源期刊:工業工程學刊卷期:18:4 民90.07 頁次:頁37-47 (6388445) https://catalog.digitalarchive 建立半導體晶圓允收測試參數之預測模型—以電容為例
由 黃賢文 著作 · 2009 — 晶圓允收測試(wafer acceptance test, WAT)，其功能在於對晶圓做初步的電性量測，以作為晶圓出貨給代工客戶的依據。其測試的電性參數，如電容、電壓、電阻… https://www.airitilibrary.com 建立半導體晶圓允收測試參數之預測模型—以電容為例 - 全國博 ...
晶圓允收測試(wafer acceptance test, WAT)，其功能在於對晶圓做初步的電性量測，以作為晶圓出貨給代工客戶的依據。其測試的電性參數，如電容、電壓、電阻… https://ndltd.ncl.edu.tw 轉寄 - 全國博碩士論文
論文摘要晶圓允收測試(wafer acceptance test, WAT)，其功能在於對晶圓做初步的電性量測，以作為晶圓出貨給代工客戶的依據。其測試的電性參數，如電容、電壓、電阻… https://ndltd.ncl.edu.tw |